XS3DU梅特勒电子天平XS3DU 百万分之一天平

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的称量性能，完全满足基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。标准配置内置称量应用程序TouchScreen触摸屏，方便天平称量和参数设置SmartTrac彩色动态图形显示器：图形称量辅助，跟踪称量范围和公差可设置多达10个特定功能的快捷键可定义3个的信息，用于用户和样品标识内置RS232C和两个辅助接口；用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件，实现无需用手接触的称量操作第二接口选件插槽；例如LocalCAN，以太网，RS232，MiniMettler，蓝牙或PS/2等接口选件手动开关门的玻璃防风罩可更换的显示屏保护盖下挂钩称量具有过载保护的称量传感器显示多种质量单位差重称量应用程序计件和百分比称量应用程序统计应用程序技术指标极限值XS3DU 双量程Z大称量值3.1 g可读性0.01 mgZ大称量值0.8 g可读性0.001 mg重复性(sd) - 加载处0.006 mg- 低加载(加载处)0.005 mg (0.2 g)重复性(sd) - 加载处0.001 mg- 低加载(加载处)0.0008 mg (0.2 g)线性误差0.004 mg四角误差(加载处)1)0.005 mg (2 g)典型值 4)典型重复性(sd)0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr典型微分非线性(sd)√2x(10-12)g·R_nt典型微分四角误差(sd)1.2 x (10–6)•R_nt典型灵敏度偏移(sd)2)3 x (10–6)•R_nt典型Z小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr典型稳定时间< 6 sec 稳定时间< 10 sec1) 根据OIML R762) 在10到30°C的温度范围内3) 一次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年* 重复性和Z小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。