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人工晶状体ZX厚度测量仪(低测力)产品特点:
探针自动上下,可由按钮控制或脚踏开关(选配)控制
人工晶状体ZX厚度测量仪(低测力)可选配:
RS232电脑通讯接口数据采集软件校准套件(测厚+测力)脚踏开关
技术参数:
测量范围:0-1999微米测量分辨率和重复性:1微米测量精度:±2微米(±1微米加上±1微米四舍五入)探针测力:可调整,出厂设置为约0.5gm标准测座:直径12.7mm,平面显示:3.5位0.75吋液晶屏,每秒刷新3次调零:旋钮调整约±15微米测头:2.3mm直径顶部平整抛光电源:220VAC,50Hz,5VA输出:25针RS232电脑端口(选配)环境:15~30℃,90%相对湿度产地:美国
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