CM1-400C/3300 常熟断路器泉州市代理商CM1-400C/3300

非接触方式

　　利用过程测量方式，高压断路器机械特性测试仪不仅可实现对参数的科学精确测试，还可实现对高压断路器机械特性中位移、速度的非接触测试。

　　目前，高压断路器机械特性测试仪在位移、速度的测试方面基本都采用接触方式来获得高压断路器的位移、速度信息，也就是必须将位移传感器接触安装在断路器的联动部分，通过接触断路器的运动来感受其运动信息。由于高压断路器的结构和形状各异，因此该方式在现场的测试中十分困难，甚至不可能实现。

　　利用光反射偏移原理可实现对高压断路器速度、位移的非接触测试。光电测量位移、速度原理图见图4。

　　 　　 　　            图4　光电测量位移、速度原理图

　　从图4中可以看出，被测物体在从位置h2运动到位置h1时，通过被测物体反射到测试平面的光线从S2运行到S1 ，通过几何关系很容易算出被测物体的位移h=h1-h2与测试平面的感受位移S=S1-S2之间的关系h=S/(2tgθ)由于θ值是已知的，S是可测量的，所以，可以通过反射光的偏移位移得到被测物体本身的位移h。由于光的速度很快，只要测试平面的扫描速度足够快（20 kHz即50μs）即能够对运动物体的位移、速度实现非接触测试。