G系列 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 G系列

博曼G系列产品概述：

- G系列是博曼具有性价比的一款机型。该机型机构紧凑，没有可移动部件。与博曼其他系列不同，该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上，并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小，可手动调整样品位置测量样品，该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。

- G系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器。

博曼G系列可满足以下类型用户的需求：

- 样品测试量相对较小

- 客户或供应商对于镀层提出了新要求

- 主要分析珠宝或其他贵金属

- 预留摆放空间小

- 预算有限

博曼G系列产品参数：

关于美国博曼：

美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可JZGX地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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