P系列 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 P系列

博曼P系列产品概述：
- P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台,可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。
- 标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的。

博曼P系列可满足以下类型用户的需求：
- 小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 期望在多个样品上实现自动测量
- 样品尺寸和应用经常变化- 符合IPC-4552A

博曼P系列产品参数：

关于美国博曼：
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可JZGX地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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