O系列 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 O系列

博曼O系列产品概述：
- O系列采用毛细管光学结构，拥有JZ的测试性能，同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器，在短时间内捕捉并处理大量数据，在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取JZ的测量结果（准确性和重复性）。
- 该系列采用80μm毛细管光学结构，同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数，拥有45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近，所以使用时样品必须平整。

博曼O系列可满足以下类型用户的需求：
- 极小的样品，如半导体，连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 需要测量非常薄的涂层（<100nm）
- 需要在短时间内完成测量（1-5秒）- 符合IPC-4552A

博曼O系列产品参数：

关于美国博曼：
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可JZGX地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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