低温运行/低温贮存试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性、耐久性以及低温下材料物理化学性能。 测试标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。 测试范围 低温试验主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。
低温条件下试件的失效模式
产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死及特性改变等现象。
低温环境对设备的主要影响有
a. 使材料发硬变脆；
b. 润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小；
c. 电子元器件性能发生变化；
d. 水冷凝结冰；
e. 密封件失效；
f. 材料收缩造成机械结构变化。
测试标准
GJB150.4A-2009《设备环境试验方法 低温试验》
MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》
GJB367.2-87《通信设备通用技术条件》
GJB4.3-83《舰船电子设备环境试验 低温试验》
GJB4.4-83《舰船电子设备环境试验 低温贮存试验》
GJB367A-2001《通信设备通用规范》4.7.27 低温试验
GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》 IEC 60068-2-1:2007《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》
SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.4 低温负荷试验
SJ/T 10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.5 低温贮存试验
QC/T 413-2002《汽车电气设备基本技术条件》 YD/T 1591-2009《移动通信手持机充电器及接口技术要求和测试方法》 | 
