X-Strata 920 X射线荧光镀层测厚仪

X-Strata920是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

The X-Strata920可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括：
成本低、快速、非破坏的EDXRF分析 
可完成至多4层镀层（另加底材）和15个元素的镀层厚度测试，自动修正X射线重叠谱线 
的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数22号）到铀（92号）各元素 测厚行业20年知识和经验的积淀

使用广受推崇的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920可实现如下测试要求：
符合ISO3497标准测试方法：金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度

符合ASTM B568标准测试方法：X射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层 

至多同时分析25种元素

“井深式”样品仓设计，可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ，可测量样品高度为160mm (6.3”)。样品台支架可放置在“深井”中的4个位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量。
样品台支架放置在标准位置（Z上层）时，就是“开槽式样品仓”，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。
Z轴自动控制（Z向行程：43mm/1.7”） §样品仓内部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高x宽x深D)

经实践验证、坚固、耐用的设计，可在绝大多数严苛的工业条件下使用。
空间占用小 –节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。
§计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。

镭射用于自动精确定位X射线光管/检测器与被测样品到佳测试距离。
“一键操作”将测试头移动到佳位置，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上）。
自动而简单的操作提高仪器测试的再现性，并将人为测量误差降到.
注：测试距离为12.7mm (0.5”)，由X射线测试头自动调节高度（Z轴）。

牛津仪器生产的、经实践验证的50瓦X射线光管 
微聚焦型钨靶X射线光管，产生高通量X射线，经过准直器，得到细束X射线。 这个“聚焦X射线束”可对小样品或者样品上小测试点进行高精度的分析。

高分辨率、大面积、封氙气的正比例计数器 
结合二次滤波器来化灵敏度，以获得佳元素检测。

包含二次滤波机制和钴滤波器用于X射线重叠谱的修正。
标准钴（Co）滤波器，用于同时含有镍（Ni）和铜（Cu）的样品，如 ：NiP/Cu, **/Ni/Cu, **/Ni/Cu alloy。 注 1)：** 指样品Z上层其他元素 注2)：本配置包包含一个Co二次滤波器，Z多可装三个滤波器。