回收日置 HIOKI阻抗分析仪 回收LCR测试仪

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刘（微同号）

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回收日置 HIOKI阻抗分析仪 回收LCR测试仪
阻抗分析仪IM7580A
Z块0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小
测量频率1MHz~300MHz
测量时间：Z块0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。

测量模式    LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量
测量参数    Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围    100 mΩ~5 kΩ
显示范围    Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度    Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
测量频率    1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进)
测量信号电平    功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
输出阻抗    50 Ω (10 MHz时)
显示    彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间    Z快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）
功能    接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口    EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源    AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

可选夹具
测试夹具台IM9200标配放大镜
SMD测试夹具IM9201高频测量3GHz，对应6尺寸的SMD
适配器(3.5mm-7mm)IM9906 3.5mm(公头)-7mm转换
校准套件IM9905 OPEN/SHORT/LOAD的套装
PC通讯
O915102GP-IB连接线9151-02 2m长O9637
RS-232C 连接线 9637  9pin-9pin，1.8m长
Oz3000GP-IB接口Z3000
Oz3001RS-232接口Z3001

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阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。