Dimension FastScan 原子力显微镜

扫描速度的全新诠释，拥有Z高的扫描分辨率，优异的仪器检测性能
    Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和的仪器性能前提下，Z大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
    为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。
     GX率  
在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节    和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。
自动测量软件和高速扫描系统结合，大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。
高分辨率     
Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。
扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
在任何样品上均有表现
闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。
Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。
DimensionFastScan
   AFM扫描速度的新定义