新型计米轮 型号:TC-JMQ
能参数:
1。工作电源:DC12V (±10%) 20mA
2。缘抗阻:≥50MΩ
3。输出方式:NPN信号输出
4。输出容量:≤50mA
5。测量精度:≥0.05%
6。测量规格:JMQ1:1NPN/米
JMQ2:1NPN/分米
JMQ3:1NPN/厘米
用 途:
TC-JMQ系列长度测量计米轮广泛应用于包装、印刷、造纸、纺织、橡胶、塑料等行业中各类传动设备上作为精密长度测量装置。计米轮分为三种型号规格:TC-JMQ1(米级)、TC-JMQ2(分米级)、TC-JMQ3(厘米级)。计米轮的是由特种耐磨防滑橡胶合成材料与铝合金框架组合而成,长期使用磨损很少,确保计量精度;内部电路采用独特的设计方法,抗干扰能力强:因而整机具有性能稳定可靠,故障率低等显著优点。
特 点:
◆本装置计米是由特种耐磨防滑橡塑材料与铝合金轮架复合而成,能有效确保长期使用的计长精度。
◆内部数字电路设计先进,采用进口器件,整机性能稳定可靠,抗干扰能力强。
安装尺寸:
见说明书。
新型计米轮适用环境:
海 拔:<1000m
环境温度:-10℃~50℃
相对湿度:45~85%
无腐蚀性气体和粉尘的场合。
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/20155269141718908.jpg) | 产品名称:数字式四探针测试仪 产品型号:SZT-1 |
数字式四探针测试仪型号:SZT-1
SZT-1型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻(方块电阻),换上特制的四探针测试夹,还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外,探针经过特殊加工后,还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位,对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针,定位准确,游移率小,使用寿命长。
SZT-1型数字式四探针测试仪技术参数:
1. 测量范围:
电阻率:10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方块电阻:10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
电阻:10的-6次方 ~10的5 次方Ω
导电类型鉴别:电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2. 可测半导体材料尺寸
直径:φ15~100 mm
长度:≤400mm
3. 测量方法:
轴向、断面均可
4. 显示方式:31/2,数显,性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。
5. 恒流源:
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA
(3) 误差:±0.5%读数±2个字
6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W