德国HighFinesse公司是世界上公认的*生产高精度波长计的,生产的波长计是目前国际上用在科学研究和工业领域先进测试设备。该公司在光学设计、精密机械和科学软件算法方面,拥有长期不断发展的技术。由于这些技术的应用,HighFinesse为生产和质量控制的研究提供前端的检测设备,客户早已遍及世界Z知名的研发机构和设备厂商。
HighFinesse高精度波长计
集成内置校准
紧凑、可靠、通用
坚实紧凑的高精度波长计设计用于脉冲与连续激光光源的日常控制。通过易于使用的光学多模光纤进行耦合,即使光强很低也可以正常操作。光学单元及相关电子部件封装在紧凑的热隔离外壳内。
即插即用
采用PC进行电源供应与数据读出,可以通过USB接口实现。只要软件安装正常,波长计就可以使用了,无需预热。
用户定制
HighFinesse高精度波长计的灵活设计可以轻松实现额外光学部件与软件模块的集成-即使客户是多年前购买的产品。HighFinesse为您的具体应用需求实现高度自定义。
WS5、WS6、WS7型波长计是兼具高灵敏度又紧凑的波长计。它能够测量脉冲和连续的激光源。整机结构紧凑,光学元件和指定的电子设备都装在一个热隔离的外壳中。
应用范围:
连续激光器和脉冲激光器的波长测量
Measurement Range Ability | WS5 | WS6-600 | WS6-200 | WS7-60 | WS7-30 |
Standard (330-1180 nm) | x | x | x | x | x |
UV-I (248-1180 nm) | x | x | x | x | x |
UV-II (192-800 nm) | x | x | x | x |
Vis/IR-I (330-1750 nm) | x | x | x | |
Vis/IR-II (500-2250 nm) | x | x | x | |
IR-I (630-1750 nm) | x | x | x | x | x |
IR-II (1000-2250 nm) | x | x | x | x | x |
IR-III (1400-11000 nm) | x | | x | |
Absolute Accuracy 1 |
192-330 nm 2 | 3 pm | 0.6 pm | 0.4 pm | 0.2 pm | 0.1 pm |
330-420 nm | 2 pm | 0.3 pm | 0.2 pm | 0.04 pm | 0.02 pm |
420-1100 nm | 3000 MHz | 600 MHz | 200 MHz | 60 MHz | 30 MHz |
1100-2250 nm | 2000 MHz | 400 MHz | 150 MHz | 40 MHz | 20 MHz |
2250-11000 nm | 3000 MHz | | 200 MHz | |
Quick Coupling Accuracy 3 | 3000 MHz | 600 MHz | 600 MHz | 150 MHz | 100 MHz |
Measurement Speed |
up to | | | | |
Standard | 950 Hz | 950 Hz | 500 Hz | 500 Hz | 500 Hz |
IR-I | 2000 Hz | 2000 Hz | 1200 Hz | 1200 Hz | 1200 Hz |
Model WS-FAST VIS (330-1180 nm) | 24000 Hz | 24000 Hz | | |
Model WS-FAST IR (900-1700 nm) | 50000 Hz | 50000 Hz | | |
1) According to 3σ criteria 2) With multimode fiber
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具有灵敏度高,结构紧凑的特点,设计用于高速测量超宽光谱范围的各式激光器。光学单元包含温度控制干涉仪,干涉模式通过CCD光电二极管阵列读出。通过使用固态的非移动光学部件实现超高的测量精度。
光学单元及相关电子部件封装在紧凑的热隔离外壳内。与计算机或笔记本的连接是通过高速USB2.0接口实现的,可以实现高速数据读出。软件可展示干涉仪的所有信息,并与Microsoft窗口兼容。
优势与特色:
高精度测量
内置校准
可以测量脉冲和连续的激光源
高速测量可达76 kHz
光谱范围可扩展到:192 nm - 11 µm
兼容LabView, C++, MatLab, ...
产品应用:
半导体激光器,钛宝石激光器,染料激光器,分子与原子光谱,拉曼,荧光光谱,高分辨率光谱科学测量与频率标准,激光冷却,高分辨率光谱与原子光学,高端LIDAR,倍频激光器与光参量振荡器领域。