ST130-3010A 晶片频率分选仪

晶片频率分选仪

产品介绍

STA晶片频率分选仪是用于测量1-60MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计直接显示（须外接频率计），测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。

产品介绍

STA是用于测量1-60MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计直接显示（须外接频率计），测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。

1．1使用环境：

a.环境温度：0-40℃；

b.相对湿度：（20-90）%；

c.大气压强：86-106kPa。

1．2安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。

1．3使用电源：220V±10%，50Hz。

1．4消耗功率：小于8VA。

1．5外形尺寸：270mm（宽）×130mm（高）×310mm（深）。

1．6重量：约5kg。

技术参数

频率范围：1-60MHz。

频段划分：1-2.2MHz

2.2-5MHz

5-10MHz

10-20MHz

20-40MHz

40-60MHz

频率计测量准确度：±5×10-6。

时基稳定度：3×10–6／日[可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10–8／日]。