全波段光谱测量系统

光谱角分布测量系统

 全波段光谱透过率测量，透射角分布测量

 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量

 波长范围:200nm-IR

 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构

 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005°，分辨率0.00125°

 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作

 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转ZX并且垂直于台面

 功能扩展：测量光栅衍射效率