德国EPK MiniTest系列测厚仪 铜上镀铬探头 N08Cr 具体参数:
探头 | 量程 | 低端 分辨率 | 容差1 | Z小曲率半径 (凸/凹) | Z小 测量面积 | Z小 基体厚度 | 尺寸 |
N08Cr 铜上铬 | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm/10mm | Φ5 mm | Cu≥100μm | Φ16x70 |
N08Cr适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄铬镀层,可搭配所有主机。
德国EPK MiniTest系列测厚仪 铜上镀铬探头 N08Cr 基本配置:
测头N08Cr一支,专用校准箔一片,可更换测嘴一个,合格证一张。
德国EPK MiniTest系列测厚仪 铜上镀铬探头 N08Cr 可搭配主机型号及相关要求:
注:选择适合你的主机和探头
主机可选:
MiniTest 1100涂层测厚仪主机
MiniTest 2100涂层测厚仪主机
MiniTest 3100涂层测厚仪主机
MiniTest 4100涂层测厚仪主机
所有主机具有以下技术特点:
·可配接所有测头
·可通过RS-232接口连接微型数据打印机MiniPrint和PC
·可使用1片或2片标准箔校准
德国EPK MiniTest系列测厚仪 可选探头:
·F型测头:应用磁感应原理,测量钢铁基体上的非磁性覆层,称作磁性测头。
·N型测头:应用电涡流原理,测量有色金属基体上的绝缘覆层,称作非磁性测头。
·FN型两用测头:同时具备F型和N型测头的功能。
测头 F05——磁性测头,适用于测量钢铁上的薄涂层 ,0...500μm,Φ3mm
测头 F3——磁性测头,适用于测量钢铁上较厚涂层, 0...3000μm,Φ5mm
测头 F1.6——磁性测头,量程低端分辨率很高(0.1μm),0...1600μm,Φ5mm
测头 F1.6P——磁性粉末测头,特别适合测粉末状的覆层厚度, 0...1600μm,Φ30mm
测头 F1.6/90——90°磁性测头,特别适合在管内壁测量,0...1600μm,Φ5mm
测头 F10/2——磁性测头,适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,0...10mm,Φ20mm
测头 F20——磁性测头,适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,0...20mm,Φ40mm
测头 F50——磁性测头,适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,0...50mm,Φ300mm
测头 FN1.6——两用测头,可测量钢铁上的非磁性覆层与有色金属上的绝缘覆层,0...1600μm,Φ5mm
测头 FN1.6P——两用粉末测头,特别适合测粉末状的覆层厚度,0...1600μm,Φ30mm
测头 FN1.6/90——90°两用测头,特别适合在管内壁测量,0...1600μm,Φ5mm
测头 N02——非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层,0...200μm,Φ2mm
测头 N08Cr——适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄铬镀层,0...80μm,Φ5mm,Cu≥100μm
测头 N02 Tu——适用于测量铝箔或薄铝壁管上薄涂层,0...200μm,Φ2mm
测头 N1.6——非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层,0...1600μm,Φ5mm
测头 N1.6/90——90°非磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层,尤其适合管内壁测量,0...1600μm,Φ5mm
测头 N10/2——非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,0...10mm,Φ50mm
测头 N20——非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,0...20mm,Φ70mm
测头 N100——非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较厚的绝缘覆层,0...100mm,Φ200mm
测头 CN02——用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板,10...200μm,Φ7mm
测头 F2(250°C)——磁性测头,短时工作温度可达到250°C, 0...2000μm,Φ5mm
测头 F2(350°C)——磁性测头,短时工作温度可达到350°C,0...2000μm,Φ5mm
测头 F2/90——90°磁性测头,特别适合在管内壁测量,0...2000μm,Φ5mm
测头 N2/90——90°非磁性测头,特别适合在管内壁测量,0...2000μm,Φ5mm
测头 FN 2/90——90°两用测头,特别适合在管内壁测量,0...2000μm,Φ5mm
德国EPK MiniTest系列测厚仪 探头配件可选:
RS-232专用接口线缆、
MSoft41数据分析软件、
测头N02Tu的专用支架、
测厚仪配件可选:
MiniPrint 4100专用打印机
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