韩国XRF-2000镀层测厚仪规格及应用
主機箱 | 輸入電壓 | AC220V±10% 50/60Hz | 溝通方法 | RS-232C | 溫度控制 | 前置放大及機箱溫度控制 | 對焦 | 鐳射自動對焦 | 樣品對位 | 鐳射對位 | 安全裝置 | 若測量中箱門打開，X射線會在0.5秒內關閉 | 表面洩漏 | 少於 1mSV | 多通道分析 | 通道數量 | 1024 ch | 溫度控制 | 自動前置放大溫度控制 | 脈衝處理 | 微電腦高速處理器 | X射線源 | X 射線管 | 油冷，超微細對焦(選項) | 高壓 | 0 – 50 kV (程控) | 管電流 | 0 – 1 mA (程控) | 目標杷 | W 靶 (可選Mo或Be ) | 準直器 | 種類 | 固定型或自動型 (選項) | 固定種類大小 | 可選 0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 1 x 0.4mm其他大小 (選項) | 自動種類大小 | 0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05 x 0.4mm | 電腦系統 | 電腦 | IBM 相容 | 顯示器 | 十七吋彩色顯示器 | 印表機 | 噴墨彩色打印機 | 校正 | 應用 | 單鍍層, 雙鍍層, 合金鍍層, 電鍍液 | 修正功能 | 密度修正, 標準樣品再校正 | 2D﹑3D﹑隨機位置測量 | 2D均距表面測量 | 3D | 表面排列處理測量 | 隨機位置 | 任意設定測量點 |
| 檢測系統 | 檢測器 | 正比計數器 | 檢測濾片 | Co或Ni (選項) | X-Y-Z 三軸樣片臺 | 操作模式 | 高速精密馬達﹐可控制加減速 | 位置控制 | 鼠標定位 | 樣品臺視窗控制 | 防呆攝錄機監控 | 2D﹑3D﹑隨機定位 | 程控定位 | 箱門開關感應Y軸傳輸 | 攝像系統 | 攝像器 | 彩色數字 CCD 攝像頭 | 顯示模式 | 顯示器覆蓋模式 | 刻度線 | 軟件產生 | 光束顯示 | 軟件顯示真實大小 | 照明燈 | 光暗控制 | 自動修正功能 | 光束及十字線自動修正 | 統計功能 | 處理項目 | Z大/Z小值, 位移, 平均值, 標準差, Bar 圖表 R 圖表及方型圖等等 | 報表 | 五種模式可選 | 處理能力 | Z多90項 | 標誌功能 | 可插入公司標誌 | 預覽 | 列印前預覽﹐可節省紙張 | 定性分析 | 顯示模式 | 原素頻譜顯示 | 方法 | ROI 距離定性分析 | 原素顯示 | 標籤圖案顯示 | 指標顯示 | 顯示原素及測量數值 | ROI顯示 | 顯示ROI彩色圖 | 放大功能 | 局部倍大 | 平均功能 | 柔和顯示頻譜 | 視窗大小 | 無級別式視窗大小 |
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韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪共三种型号
不同型号各种功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm
韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪
检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度
主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
韩国XRF2000镀层测厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等
测量时间：10－30秒
精度控制：
层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值
同比其他Pai子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
X-RAY镀层测厚仪韩国Micro pioneer：检测电子电镀层厚，测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡等
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