XTY5101444 发射率测试仪_详细资料

产品信息

商品编号：XTY5101444 商品名称：发射率测试仪
详细介绍：
内部微控制器可将发射器温度调节至恒定的100℃，同时记录传感器信号并配合存储的标准值将其转换为发射率的值。

大屏幕LED显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。

设备的核心部件是半球形的黑体，由于发射器涂有黑色涂层，因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为100℃，黑体外壳的其余部分与发射器热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。

仪器内部的逆向热熔丝防止发射器加热时产生过多热量，并可在125℃中断加热过程。

热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号，并按照特定温度下的普朗克黑体定律给出热辐射的光谱分布图。超过97%的辐射能的波长在2.5 μm和40 μm范围之间。

应用：

1.镀膜玻璃的质量控制

热保护绝缘玻璃的的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率，TIR 100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。

2.太阳能收集器生产的质量控制

优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率，因此TIR 100也是此行业质量控制的理想设备

技术数据

测量范围                        < 0,020 … 0,980

精度                            +- 0,002

光谱范围                        2,5 μm - 40 μm

辐射能Z大值                    8

μm

黑体温度                        100 °C

积分时间                         5秒

测量点                           ~5 mm

额定功率                         130 W（230 V~/115 V~ (opt.)）

尺寸                             230毫米x 140毫米x 120毫米

重量                             2公斤

校准用标准                       低发射端：抛光铝

                                   高发射端:黑色遮光罩

参考发射率                         低发射端标准值~0,02

                                   高发射端标准值~0,98

                                   个别校准可参考国家物理实验室校准标准

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