HIOKI IM3570 分析仪,日置IM3570阻抗分析仪,日置上海代理
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
HIOKI IM3570 分析仪,日置IM3570阻抗分析仪,日置上海代理基本参数
测量模式 | LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量 |
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测量参数 | Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
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测量量程 | 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定) |
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显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示值 θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999) Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%) |
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基本精度 | Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
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测量频率 | 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进) |
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测量信号电平 | V模式,CV模式(普通模式) 50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下) 10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上) CC模式(普通模式) 10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下) 10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上) |
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输出阻抗 | 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω |
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显示 | 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF |
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测量时间 | 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值) |
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测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
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其他功能 | DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能 |
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接口 | EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN |
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电源 | AC90~264V,50/60Hz,Z大150VA |
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打印 | 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446) |
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接口 | GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准) |
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电源 | AC90~264V,50/60Hz,Z大150VA |
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体积和重量 | 330W×119H×307Dmm,5.8kg |
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附件 | 电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1 |
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HIOKI IM3570 分析仪,日置IM3570阻抗分析仪,日置上海代理