三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4
三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4的表面粗糙度/ 轮廓测量仪FORMTRACER/SV-C3200S4,货号525-481DC-1,X1 轴测量范围100 mm,花岗岩基座尺寸600×450 mm,垂直移动300 mm。
检出器测力:0.75 mN
货号 | 型号 | 主机规格 |
X1 轴测量范围 | 垂直移动 | 花岗岩基座尺寸 |
525-481DC-1 | SV-C3200S4 | 100 mm | 300 mm | 600×450 mm |
分析软件 | | FORMTRACEPAK V5.4/E SVC/CS |
2. 主机规格
2-1. 测量表面粗糙度时
测量范围 | X1 轴 | | 100 mm |
| 检出器 | 800 μm、80 μm、8 μm |
类型 | X1 轴 | | 反射型线性编码器 |
| 检出器 | | 差动电感式 |
分辨力 | X1 轴 | | 0.05 μm |
| 检出器 | | 0.01μm(800 μm) 0.001 μm(80 μm) 0.0001 μm(8 μm) |
直线度 | | (0.05+L/1000)μm L为驱动长度(mm) (以X1轴为水平方向上) |
测针上/下运作 | | 弧形移动 |
测针方向 | | | 向下 |
测力 | | | 0.75 mN |
测针针尖形状 | | 60°、R2 μm |
2-2. 测量轮廓形状时
测量范围 | X1 轴 | | 100 mm |
| Z1轴(检出器) | 60 mm |
类型 | X1 轴 | | 反射型线性编码器 |
| Z1轴 | | 圆弧光栅尺 |
分辨力 | X1 轴 | | 0.05 μm |
| Z1轴 | | 0.04 μm |
直线度 | | 0.8μm/100 mm (以X1轴为水平方向上) |
指示精度 | X1 轴 | | ±(0.8+0.01L)μm L为驱动长度(mm) |
(20℃) | Z1轴 | | ±(1.6+|2H|/100)μm H:基于水平位置的测量高度(mm) |
测针上/下运作 | 弧形移动 |
测量方向 | | | 向前/向后 |
测针方向 | | | 向上/ 向下 |
测力 | | | 30 mN |
跟踪角度 | 向上 | | 77°(依表面粗糙度而定) |
| 向下 | | 83°(依表面粗糙度而定) *使用配置的标准测头 |
测针针尖 | 半径 | | 25 μm |
| 材料 | | 硬质合金 |
2-3. 主机规格
垂直移动 | Z2 轴(立柱) | 300 mm |
长度基准 | Z2 轴 | | ABSOLUTE 线性编码器 |
分辨力 | Z2 轴 | | 1 μm |
X1 轴倾角范围 | | ±45° |
驱动速度 | X1 轴 | | 0~80 mm/s外加手动 |
| Z2 轴 | | 0~30 mm/s外加手动 |
测量速度 | | | 0.02~5 mm/s |
基座尺寸 | 600×450 mm |
基座材料 | | | 花岗岩 |
尺寸 | 主机 | 996×575×966 mm |
| 控制器 | 221×344×490 mm |
| 遥控箱 | 248×102×62.2 mm |
重量 | 主机 | 140 kg |
| 控制器 | 14 kg |
| 遥控箱 | 0.9 kg |
使用温度范围 | | 15~25 ℃ |
使用湿度范围 | | 20~80 %RT 但是不能结露 |
保存温度范围 | | -10~50 ℃ |
保存湿度范围 | | 5~90 %RT 但是不能结露 |
电源 | | | 100~120V、200~240 V±10%、AC50/60 Hz |
消耗功率 | | | 400W |