阻抗分析仪IM3570 日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪

日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪

 

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广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪，谢    ：

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1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下Z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

阻抗分析仪IM3570测量方式：压电元件的共振特性的测量

LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。

   日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪基本参数

测量模式	LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量
测量参数	Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
测量量程	100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）
显示范围	Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示juedui值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度	Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
测量频率	4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进

 

测量信号电平	V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）
输出阻抗	普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
显示	彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF
测量时间	0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）
测量速度	FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能	DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能
接口	EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN
电源	AC90~264V，50/60Hz，Z大150VA
打印	拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口	GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
电源	AC90~264V，50/60Hz，Z大150VA

 

电感（线圈、变压器）的特性检查S0023

1个画面内显示电感的L-Q、Rs有效值电阻）、DCR（直流电阻）测量。而且在1个画面内显示含铁芯的线圈等电流特性图表。

  日本日置HIOKI IM3570阻抗分析仪要点

· 阻抗分析仪IM3570可在4Hz~5MHz和广范围的测量频率下进行测量。
· 使用DC~5MHz和广范围的测量频率下可使用的4端子探头L2000。
· LCR模式下在1个画面中显示L-Q、Rs（有效值）测量、DCR（直流电阻）测量等Z多4个项目。根据外加电压而变化电感值的元件，以恒流测量。
· 通过分析模式的电流的扫频功能，图表显示电流特性。

使用仪器

阻抗分析仪：IM3570
4 端子探头L2000