分析仪IM7580A 日本日置 IM7580A 阻抗分析仪

日本日置 IM7580A 阻抗分析仪

 

		选件	选件

Z快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小

● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：Z快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。

  日本日置 IM7580A 阻抗分析仪阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，Z多进行16点的判定。

阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能

使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能

使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。

阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。
请注意不要拧过头。

• 升级・软件

 

 

日本日置 IM7580A 阻抗分析仪 

		选件	选件

Z快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小

● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：Z快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。

阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，Z多进行16点的判定。

阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能

使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能

使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。

阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。
请注意不要拧过头。

   日本日置 IM7580A 阻抗分析仪基本参数

测量模式	LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量
测量参数	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围	100 mΩ~5 kΩ
显示范围	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
测量频率	1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进)
测量信号电平	功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
输出阻抗	50 Ω (10 MHz时)
显示	彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间	Z快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）
功能	接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口	EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量	主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件	电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1

 
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