阻抗分析仪IM7581 日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪

日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪

		选件	选件

Z快0.5ms，覆盖100kHz~300MHz的低频

● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：Z快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

 

 

日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪

广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪，谢    ：

阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，Z多进行16点的判定。

阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能

使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能

使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。

阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。
请注意不要拧过头。

• 升级・软件

 

日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪 

		选件	选件

Z快0.5ms，覆盖100kHz~300MHz的低频

● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：Z快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。

阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能

分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，Z多进行16点的判定。

 

 

日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪

现货特价清仓：
日本横河：温控器
日本ADEX：测试线AP-01（AX-114N专用）。日本AEMIC：测试线AEA-01等。
日本日置：测试线L2101,9451,9140，温度线Z2001,电池测试仪测试线等。
日本优利特：U-508皮带张力计，日本QL：TM-801高斯计。
美国福禄克：示波表F199C，F190-102，F190-104，F190-204/S，F190-204，F190-202，校准器F725，F726，F754，F718，F700PD3，电能质量分析仪F435，红外热像仪TI29，TI32，TIX520，TIX562，数据采集器F8846A等。
美国安捷伦（是德科技）：数据采集器34970A,34972A,34901A，频率计53220A，E4418B，函数信号发生器33220A，33250A，万用表34401A,34411A,34461A，34410A，示波器DSOX2002A，探头1146A，N2890A，N2873A，1132A直流电源E3631A等。
美国泰克：示波器
美国MEGGER：电阻测试仪MIT515 5KV等。
台湾固纬：GDS3502示波器，电源PSW30-36，GPD-4303S等。

 

 

阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能

使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能

使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。

阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。
请注意不要拧过头。

  日本日置HIOKI IM7581阻抗分析仪基本参数

测量模式	LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量
测量参数	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围	100 mΩ~5 kΩ
显示范围	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
测量频率	100 kMHz~300 MHz (10 Hz~10 kHz步进)
测量信号电平	功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
输出阻抗	50 Ω (10 MHz时)
显示	彩色TFT8.4英寸、触屏
测量时间	Z快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）
功能	接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口	EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量	主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件	电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1

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