日本日置HIOKI IM7585阻抗分析仪
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广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置HIOKI IM7585阻抗分析仪,谢 :
高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms,测量值偏差0.07%
● 测量频率:1MHz~1.3GHz
● 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间)
● 测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
日本日置HIOKI IM7585阻抗分析仪阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品
HIOKI的企业目标形象
以挑战ONLY ONE,成为高附加值的企业为目标
为了企业的不断发展,在Z大限度的发挥每个个体的自我能力的同时,必须是一个的企业市民。
我们将"尊重人性"和"贡献社会"的企业理念作为全体员工的基本价值观,将其具体化则是企业的使命,即社会的责任。因此,我们为了能努力成为所有利益相关者能信赖的人,以及能提供高品质的产品和Z优良的服务,而不断挑战ONLY ONE,旨在成为高附加值企业。
高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms,测量值偏差0.07%
● 测量频率:1MHz~1.3GHz
● 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间)
● 测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
日本日置HIOKI IM7585阻抗分析仪阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列:SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,Z多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能
使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列:接触检查功能
使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。
请注意不要拧过头。
日本日置HIOKI IM7585阻抗分析仪基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)
测量模式 | LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
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测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
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精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
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显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
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基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
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测量频率 | 1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz) |
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测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
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输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
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显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
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测量时间 | Z快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
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功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
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接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
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电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
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体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
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附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
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