日本日置HIOKILCR测试仪 IM3533
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▶ 电解电容器的电容测量
规定电解电容器的电容时的测量条件是按照JIS标准来定的。电容器厂家的公称值是符合JIS标准的测量值。但是,电解电容器的静电容量值根据测量频率的不同有较大差异,因此也用符合实际使用回路条件的频率确认电容值。
在和电容测量相同条件下测量基于电解电容器的内部电极部分的电阻和电解质电阻等的等效串联电阻(ESR)或损耗角正切ð(tanð)。
日本日置HIOKILCR测试仪 IM3533
测量条件的设置范例:
参数 | Cs-D-Rs |
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频率 | 120Hz以及实际使用的回路的频率 |
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直流偏压 | ON 1.0V |
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信号电平 | 0.5Vrms |
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测量量程 | AUTO |
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速度 | SLOW2 |
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LowZ模式 | ON |
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![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/LCR_Using_EC2_1.png)
※其他为初始设置。
※这是测量范例。Z适合的条件根据被测物而异,请使用者自行决定。
JIS C5101-4铝固体(Mn02)和非固体电解电容器 (IEC 60384-4)
参数 | 额定静电容量 | 额定电压 | 测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压※2 |
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C,D(tan δ) Rs(ESR) | 全部 | 全部 | 100Hz 或 120Hz | 5Vrms以下 | 0.7~1.0V |
日本日置HIOKILCR测试仪 IM3533
※1 测试电压(=外加在测试样品上的电压)是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。
※1 测试电压(=外加在测试样品上的电压)能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。
※2 可省略外加直流偏压。
低阻抗高精度模式:
低阻抗高精度模式下输出电阻下降、测试电流增加,而重复测量精度提高。若测量超过100μF这类大电容(低阻抗)的电容,就能够更加稳定的进行测量。下图是使用IM3570,分别在低阻抗高精度模式ON/OFF下比较重复精度的结果。(100kHz、1Ω量程、1V)
※低阻抗高精度模式有效的条件根据机型而异。请参照各机型的使用说明书。
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/LCR_Using_EC4.png)
重复测量约100mΩ的电阻
测试仪器的介绍:
针对生产线
型号 | 测量频率 | 产品特点 |
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IM3523 | DC,40Hz~200kHz | 测量时间2ms、高性价比 |
IM3533 | DC,1mHz~200kHz | 内部直流偏压功能、触摸屏 |
针对研发、验货
型号 | 测量频率 | 产品特点 |
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IM3570 | DC,4Hz~5MHz | 分析模式下扫频功能 |
IM9000 | IM3570选件:等效电路分析软件 |
IM3590 | DC,1mHz~200kHz | 使用等效电路分析功能可分开测量ESR和ESL |
日本日置HIOKILCR测试仪 IM3533
关于等效串联电阻(ESR)和损耗系数D(tanδ)
电解电容器的普通等效电路如下图所示。
这里低频(50Hz~1kHz)的话则基于等效串联电感L的电抗(XL)非常之小,可以看做0,这时的各元件的电阻成分、电抗成分在复平面中变为下图所示的矢量关系。
电容器的理想状态是R=0、损耗系数D=0,但是实际上电解电容器的话,存在电极箔的电阻、电解质的电阻、引线的电阻以及各部分的连接电阻等各种电阻成分,因此等效串联电阻ESR或损耗系数D(tanδ)是评价电解电容器好坏的指标。
使用IM3533或IM3536可以同时测量并显示4种参数,因此如显示范例可作为电解电容器的评价标准,同时确认电抗X、静电容量C、等效串联电阻Rs、损耗系数D。
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/2/rs232c.gif) 选件 |
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应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域
● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。
● 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度比以往产品快10倍。
● 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
● (测量速度是以往产品3522-50的10倍,大大提高了反复性和稳定性)
● 专用模式,用于测量变压器线圈比率,互感系数和温度补偿DCR。
● 频率扫描测试(仅IM3533-01)
● 除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
● 内置比较器和BIN功能。
● 2ms的快速测试时间
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。
日本日置HIOKILCR测试仪 IM3533基本参数 | IM3533 | IM3533-01 |
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测量模式 | LCR,变压器测试(N,M,△L), 连续测试(LCR模式) | LCR,变压器测试(N,M,△L), 分析仪(扫描测试),连续测试(LCR/分析模式) |
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测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T |
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测量量程 | 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
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可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位] ~9.999999G [单位]) 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999) Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%) |
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基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
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测量频率 | 1mHz ~200kHz (1mHz ~10Hz步进) |
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测量信号电平 | [输出阻抗] V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrms CC模式:10μA~50mArms,10μArms [低阻抗高精度模式] V模式,CV模式:5mV~2.5Vrms,1mVrms CC模式:10μA~100mArms,10μArms |
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输出阻抗 | 正常模式:100Ω,低阻抗高精度模式:25Ω |
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显示 | 5.7英寸触摸屏,彩色TFT,显示可设置ON/OFF |
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测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,显示OFF,代表值) |
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功能 | DC偏压测量、直流电阻温度补偿 (标准温度换算显示),比较器、BIN测量(分类功能),面板读取/保存、存储功能 |
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接口 | EXT I/O(处理器),USB通信(高速),USB存储 选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一 |
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电源 | 100~240V AC,50/60Hz,Z大50VA |
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尺寸及重量 | 330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg |
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附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |
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HIOKI的企业目标形象
以挑战ONLY ONE,成为高附加值的企业为目标
为了企业的不断发展,在Z大限度的发挥每个个体的自我能力的同时,必须是一个的企业市民。
我们将"尊重人性"和"贡献社会"的企业理念作为全体员工的基本价值观,将其具体化则是企业的使命,即社会的责任。因此,我们为了能努力成为所有利益相关者能信赖的人,以及能提供高品质的产品和Z优良的服务,而不断挑战ONLY ONE,旨在成为高附加值企业。