CS系列电化学工作站由高速MCU、高精度FET集成电路组成,内置DDS数字信号合成器、高功率恒电位/恒电流仪、双通道相关分析器和双通道高速16bit/高精度24bit AD转换器。能完成线性扫描伏安(LSV)、循环伏安(CV)、阶梯波循环伏安(SCV)、方波循环伏安(SWV)、差分脉冲伏安(DPV)、常规脉冲伏安(NPV)以及差分常规脉冲伏安(DNPV)等电分析方法;还可以完成恒电流(位)极化、动电位(流)扫描、任意恒电流(位)方波、多恒电流(位)阶跃、零电阻电流计、电化学 噪声(电偶电流)、电化学阻抗(EIS)等电化学测试等功能,所有测量功能均可定时自动进行,用于无人值守下的自动测量。 CS多通道电化学工作站(四通道),通道切换采用继电器进行,并由定时器控制来进行分时测量,主要用于多电解池体系自动循环测试,以提高工作效率。 可用于较大电流和较高槽压的电化学测量和应用,例如电池、电分析、腐蚀、电解、电镀(电沉积)等。仪器的电流输出范围为±2A,槽压为±21V。电压控制范围:±10V;电流控制范围:±2.0A;电流测量下限为10pA。 CorrTestTM 测试软件是CS电化学工作站的控制平台,软件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系统,并遵守Windows软件设计规则,易于安装和使用。软件包括文件管理、实验方法管理、多坐标图形显示和缩放、数据/图形的存贮/打印以及交互式帮助等。软件具有良好的用户界面,命令窗口所用的词汇与通用的电化学术语保持一致,全中文菜单和界面,方便用户的教学和科研工作。 CorrTestTM 测试软件还具有特别针对材料和腐蚀电化学的实验方法,包括钝化曲线自动或人工反扫,电化学再活化法,溶液电阻(IR降)测量和补偿法。CorrtestTM 分析软件则具有完善的数据分析功能,可对伏安曲线进行数字平滑、积分、微分运算,能对极化曲线进行电化学参数解析,包括极化电阻Rp,Tafel斜率ba,bc,腐蚀电流密度icorr,腐蚀速率计算等,还可计算噪声电阻Rn和功率谱,并可将图形以矢量方式拷贝到Microsoft Word 文档中。 CS系列电化学工作站全部采用USB2.0接口与计算机通讯,设备安装简单,即插即用。 外形尺寸:36.5cm(宽)*30.5cm(深)*16cm(高) 仪器重量:6.5Kg 仪器配置 1) 仪器主机1台 2) CorrTest测试与分析软件1套 3) 专用电解池(含盐桥和排气管)4套 4) 铂金电极、参比电极、工作电极及各4支 5) 模拟电解池1个 6) 电源线/USB数据线各1条 7) 电极电缆线4根 8) 屏蔽箱 (选配*)技术指标与功能方法 硬件参数指标
恒电位电位控制范围:±10V | 恒电流控制范围:±2.0A |
电位控制精度:0.1%×满量程读数±1mV | 电流控制精度:0.1%×满量程读数 |
电位灵敏度:10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz) | 电流灵敏度:< 10pA |
电位上升时间:<1mS(<10mA),<10mS(<2A) | 电流量程:2A~200nA, 共8档 |
参比电极输入阻抗:1012 W||20pF | Z大输出电流:2.0A |
槽压:±21V | 电流扫描增量:1mA @1A/mS |
CV 和LSV扫描速度:0.01mV~10000V/s | 电位扫描时电位增量:0.1mV @1V/mS |
CA和CC脉冲宽度:0.0001~65000s | DPV和NPV脉冲宽度:0.0001~1000s |
SWV频率:0.001~100KHz | CV的Z小电位增量:0.075mV |
AD数据采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz, | 电流与电位量程:自动设置 |
DA分辨率:16bit,建立时间:1mS | 低通滤波器 :8段可编程 |
接口通讯模式:USB2.0 | |
电化学阻抗测量指标
信号发生器 | |
频率响应:10mHz~115KHz(CS314/CS354) 10mHz~115KHz(CS364) | 交流信号幅值:0mV~2500mV |
直流偏压:-10~+10V | DDS输出阻抗:50W |
波形:正弦波,三角波,方波 | 正弦波失真:< 1% |
扫描方式:对数/线性,增加/下降 | Z大负载电容:1nF;Z大负载电感:10mH |
信号分析器 | |
积分时间:Z大值:106个循环或者105S | 测量时间延迟:0~105秒 |
Z小值:10mS 或者一个循环的长时间 | |
直流偏置补偿 | |
电位自动补偿范围:-10V~+10V | 电流补偿范围:-1A~+1A |
带宽调整:自动或手动设置, 共8级可调 | |
CS系列仪器不同型号功能比较
| 功 能 | CS124 | CS154 | CS304 | CS314 | CS354 | CS364 |
腐 蚀 测 量 | 开路电位测量(OCP) | • | • | • | • | • | • |
恒电位极化 | • | • | • | • | • | • |
恒电流极化(计时电位法, CP) | | • | • | • | • | • |
动电位扫描(Tafel极化曲线) | • | • | • | • | • | • |
线性极化曲线(LPR) | • | • | • | • | • | • |
循环极化曲线(依击穿电流回扫) | • | • | • | • | • | • |
动电流扫描 | | • | • | • | • | • |
电化学噪声测量 | | • | • | • | • | • |
电偶腐蚀测量(零阻电流计) | | • | • | • | • | • |
氢渗透监测 | | • | • | • | • | • |
伏 安 分 析 | 线性扫描伏安法(LSV) | • | • | • | • | • | • |
循环伏安法(CV) | • | • | • | • | • | • |
阶梯伏安法(SCV) | | | • | • | • | • |
差分脉冲伏安法(DPV) | | | • | | • | • |
常规脉冲伏安法(NPV) | | | • | | • | • |
方波伏安法(SWV) | | | • | | • | • |
交流伏安法(ACV) | | | | | • | • |
溶出伏安法 | | | • | | • | • |
常规差分脉冲伏安法(DNPV) | | | • | | • | • |
差分脉冲电流检测(DPA) | | | • | | • | • |
双差分脉冲电流检测(DDPA) | | | • | | • | • |
计时电位法 (CP) | | | • | • | • | • |
计时电流法 (CA) | | | • | • | • | • |
计时电量法(CC) | | | • | • | • | • |
暂 态 极 化 | 任意恒电位方波 | • | • | • | • | • | • |
任意恒电流方波 | | • | • | • | • | • |
多电位阶跃(VSTEP) | • | • | • | • | • | • |
多电流阶跃(ISTEP) | | • | • | • | • | • |
交 流 阻 抗 | 电化学阻抗(EIS)~频率扫描 | | | | • | • | • |
电化学阻抗(EIS)~时间扫描 | | | | • | • | • |
电化学阻抗(EIS)~电位扫描 | | | | • | • | • |
扩 展 测 量 | 电池充放电测试 | | • | • | • | • | • |
自动定时测量 | | • | • | • | • | • |
数字记录仪 | | • | • | • | • | • |
波形发生器 | | | • | • | • | • |
IR降测量 | | • | • | • | • | • |
圆盘电机控制 | | | • | • | • | • |
注:* 氢渗透测试中主动式充氢需要另行配置CS1001A精密恒流源使用。