源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如,它具有更短的测试时间,通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性Z大化。如果回读达到可编程容限的极限,那么该源就被钳位在此极限,从而提供错误保护。
I-V特性分析
所有数字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象限时,作为电源向负载输出功率。工作在第2和第4象限时,作为阱(负载)吸收能量。在源或阱工作期间都能测量电压、电流和电阻。
标准扫描和定制扫描
扫描方案采用自动化钩子(hook)极大加快了测试。三种基本扫描波形可设置为单事件或连
续工作,因而非常适于I/V、I/R、V/L和V/R特性分析。
-线性阶梯扫描:从起始电平到终止电平使用相
等的线性步长
-对数阶梯扫描:按照每十个单位指定的步数按
对数量比例进行扫描
-定制扫描:通过指定测量点的数量和每个点的
输出电平,支持设立专用扫描
-达1700读数/秒(4位半分辨率),至GPIB总线
-5000个5位半分辨率的读数可以存储在非易失缓冲存储器中
内建测试定序仪(源存储器列表)
源存储器列表提供了更快捷、更方便的测试,您能设置和执行多达100种不同的测试并能实现无PC干预的运行。
-存储多达100种仪器配置,每种均包含源设置、测量设置、通过/失效标准等。
-通过/失效极限测试速度达500μs/测试点
-板上比较器消除了当发送数据至计算机分析时产生的延迟
-内建、用户定义的数学函数用于计算推导参数
典型应用
设备:
分立半导体器件
无源器件
瞬变YZ器件
IC、RFIC、MMIC
激光二极管、激光二极管模块、LED、光检测器
电路保护器件:TVS、MOV、保险丝等
气袋
连接器、开关、继电器
测试:
漏电
低电压/电阻
LIV
IDDQ
I-V特性分析
隔离和印制线电阻
温度系数
正向电压、反向击穿、漏电流
直流参数测试
直流电源
HIPOT
绝缘耐压
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