X-123X射线光谱仪探测器

XRF光谱仪探测器         包含：
1. X射线探头和前置放大器（前放）；
2. 数字脉冲处理器和多道分析器；
3. 电源和PC接口。

X-123X射线光谱仪探测器产品特性：
1. 紧凑的一体化设计；
2. 易操作；
3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；
4. 低功耗（2.5W）；
5. 重量轻180克；
6. USB和RS232通讯支持；
7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。

X-123X射线光谱仪探测器应用范围：
1. X射线荧光谱仪；
2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；
3. 流程控制；
4. 艺术和考古；
5. X-123产品演示。

探测器：
1. Si-Pin半导体X射线探头；
2. 两级热电制冷；
3. 面积：6-25mm2；
4. 厚度：300-500µm；
5. 多层准直器。

典型性能参数：
1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；
2. 适用能量范围：1-40keV；
3. Z大计数率：可达每秒两百万计数。
4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。