电子温度冲击试验箱TSL高低温冲击测试设备
设备用途
适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的助手。
电子温度冲击试验箱TSL高低温冲击测试设备
设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到Z小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
温度冲击试验箱试验目的及要求
温度冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度,适用于科研、学校、工厂、等单位用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验。
1、试验目的:确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性。
2、试验条件:高温箱:RT~150℃,低温箱:RT~-40℃,试验温度保持时间:1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长者为准,循环次数:针对各个不同行业不同厂家所对应的试验要求不一样,按照标准上的试验方法测试。
3、恢复:测试产品从冷热冲击箱内取出后,应在正常的试验大气条件下进行恢复,直至试验样品达到温度稳定。
4、高低温冲击试验箱参照标准:
GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3、GJB150.4
5、对温度冲击试验箱的要求:
a.采用高温箱和低温箱进行冷热冲击试验,以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度。
b.高温区的要求,应符合GJB150.3-86《设备环境试验方法高温试验》的第3章各条所规定的要求。
c.低温区的要求,应符合GJB150.4-86《设备环境试验方法低温试验》的第3章各条所规定的要求。
d.提供高温试验部分和低温试验部分,应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各条所规定的要求。
e.试验箱的容积应保证在试验样品放入候补超过试验温度保持时间的10%就能使试验箱(室)温度达到GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。
6、温度冲击试验箱控制系统:
低温区、高温区转换时间≤15s。
温度恢复时间≤5min。
设备执行与满足标准
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;
4、GJB150.5-86温度冲击试验;
5、GJB360.7-87温度冲击试验;
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
安装条件
使用条件 | |
1. 安装场地 | 设备周围留有适当空间:设备四个面至少流出0.8米以上用于维修、保养过道。 地面平整、通风良好 设备周围无强烈振动 设备周围无强电磁场影响 设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘 |
2. 环境条件 | 温度:5℃~35℃ 相对湿度:40%RH~90%RH 气压:86kPa~106kPa |
12.3. 气源(压缩空气) | 压力:(5~7)kg/cm2 连接管口径:φ8mm 流量:0.1m3/min |
12.4. 供电条件 电源 | AC380V 三相四线+保护地线 电压允许波动范围:AC(380±38)V 频率允许波动范围:(50±0.5)Hz 保护地线接地电阻小于4Ω;TN-S方式供电或TT方式供电 要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关,并且此开关必须是独立供本设备使用 |
Z大电流 | 32A |