加工定制 | 是 | 类型 | 镀层测厚仪 | 品Pai | 其他 |
型号 | OXFORD-243E | 测量范围 | 0-1270um(mm) | 显示方式 | 数显 |
电源电压 | 12(V) | 外形尺寸 | 149*79.4*30.2(mm) |
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OXFORD-243E涂层测厚仪技术参数
技术参数及功能:
- 准确度:相对标准片±3%
- 精确度:0.3%
- 分辨率:0.1μm
- 电涡流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
- 存储量:26,500 条存储读数
- 尺寸:14.9 x 7.94 x 3.02 cm
- 重量:0.26 kg 包括电池
- 单位:英制和公制的自动转换
- 接口:RS-232串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
- 显示屏:三位数LCD液晶显示
- 电池:9伏碱性电池,65小时连续使用
先进的ECP-M探头
ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量
铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探
针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
测量范围:
铁上镀层 镀层厚度范围 探头
Zn 0–38μm ECP-M
Cd 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
ECP-M探头规格(mm)
Z小凸面半径 1.143
Z小凹面半径 1.524
测量高度 101.6
Z小测量直径 2.286
底材Z小 304.8
OXFORD-243E涂层测厚仪标准配置
| OXFORD-243E |
标准配置 | - OXFORD-243E涂层测厚仪主机;
ECP-M探头及拆除指南; Rs232串行电缆; 校准用铁上镀锌标准片组。
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