纳米焦点DR检测系统超高分辨率纳米焦点DR检测系统修改_详细资料

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超高分辨率纳米焦点DR检测系统

关键特征：
190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率纳米焦点射线
JIMA卡空间分辨率测试可达0.5微米
支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
主要技术规格：
微米焦点射线管
类型
穿透型纳米焦点射线管
Z大管电压
190kV/225kV/240kV
冷却
封闭式自循环冷却
焦点大小
0.5微米(采用JIMA卡测试)
探测器
类型
非晶硅平板探测器
像素大小
100um /127um /139um/200um
像素数量
平板探测器：>2048′2048
机械系统
类型
高精度机械系统
Z大有效检测范围
可定制化
Z大承重
可定制化
旋转
nx3600
软件
类型
二维射线检测
软件功能
系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能

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微米焦点射线管	类型	穿透型纳米焦点射线管
	Z大管电压	190kV/225kV/240kV
	冷却	封闭式自循环冷却
	焦点大小	0.5微米(采用JIMA卡测试)
探测器	类型	非晶硅平板探测器
	像素大小	100um /127um /139um/200um
	像素数量	平板探测器：>2048′2048
机械系统	类型	高精度机械系统
	Z大有效检测范围	可定制化
	Z大承重	可定制化
	旋转	nx3600
软件	类型	二维射线检测
软件	软件功能	系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能

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