.薄膜厚度测试仪./薄片自动高精度测厚仪 型号:MHY-21045
.薄膜厚度测试仪./适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量
特 征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
自动进样
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示Z大值、Z小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
标准接触面积、测量压力(非标可选)
显示Z大值、Z小值、平均值和统计偏差
标准量块标定
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜厚度测试仪器技术指标
测量范围:0~2mm;0~6mm,12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000mm
进样速度:0.1~99.9mm/s
电 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)
净 重:32kg
薄膜厚度测试仪器标 准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜厚度测试仪器配 置
标准配置:主机、标准量块一件
选 购 件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码