7-PLSpec 光致发光光谱测试系统

该系统可以测量半导体材料或其他发光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些复合薄膜等)在激光激发下的光致发光谱，进而分析材料能带等特征，是材料研究和半导体研究必不可少的测试设备。 

技术指标

• 光谱范围：200-2500nm (可根据实际需要选择）
• 波长准确度：±0.2nm
• 光谱分辨率：±0.1nm
• 光谱带宽：0.2-10nm 可调
• 光源波长：224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm等