回收二手示波器Tektronix泰克TDS5032B示波器_详细资料

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回收TDS5032B数字荧光示波器回收二手示波器Tektronix泰克TDS5032B示波器
回收二手示波器Tektronix泰克TDS5032B示波器
东莞市荣鑫电子仪器有限公司
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TDS5032B技术特点
TDS5000B系列示波器技术参数表
垂直系统
TDS5032B
TDS5034B
TDS5052B
TDS5054B
TDS5104B
输入通道
2/4
2/4
4
模拟带宽(-3dB)
350MHz
500 MHz
1000 MHz
计算的上升时间5 mV/格 (典型)
1.15n ps
800 ps
400 ps
硬件带宽限制
150 MHz 或 20 MHz
输入耦合
AC
DC
GND
输入阻抗
1MW±1%或50W±1%
输入灵敏度
1MW输入
1 mV/格到10 V/格
50W输入
1 mV/格到1 V/格
垂直分辨率
8 位，取平均值时大于11位
Z大输入电压
1MW输入
在超过200 kHz 时，(150 V CAT I 在20 dB/10 时减至9 V RMS
50W输入
5 V RMS ，峰值小于(30 V
DC 增益精度
1.5%，偏置设为0 V
偏置范围，1MW
1 mV/格-99.5 mV/格 ±1 V
100 mV/格-1 V/格 ±10 V
1.01 V/格-10 V/格 ±100 V
偏置范围，50W
1 mV/格-99.5 mV/格 ±1 V
100 mV/格-1 V/格 ±10 V
100 mV-500 mV ±5 V
1 mV-50 mV/格 ±0.5 V
50.5 mV-99.5 mV ±0.25 V
505 mV-1 V ±2.5 V
在相等的垂直刻度时任意两条通道的通道间隔离
在≤100 MHz 时≥100:1 ，>100 MHz 时≥30:1
时基系统

时基范围
200 ps/格到40 s/格
时基延迟时间范围
16 ns 到 250 s
通道间抗扭曲范围
±25 ns
时间增量测量精度
±(0.30 采样间隔) + (15 ppm * 读数)
触发抖动(RMS)
10 ps RMS (典型)
长期取样速率和延迟时间精度
在≥1 ms 间隔上±15 ppm
采集系统

实时采样速率

1通道（Z大）
5GS/s
5GS/s
5GS/s
2通道（Z大）
2.5 GS/s
2.5 GS/s
2.5 GS/s
3-4通道（Z大）
1.25 GS/s
1.25 GS/s

等效取样速率（Z大）
250 GS/s
250 GS/s
250 GS/s
每条通道Z大记录长度：标准内存
400K（1通道）
200K（2通道）
400K（1通道）
200K（2通道）
100K（4通道）
400K（1通道）
200K（2通道）
100K（4通道）
可选的1M内存
2M（1通道）
1M（2通道）
2M（1通道）
1M（2通道）
500K（4通道）
2M（1通道）
1M（2通道）
500K（4通道）
可选的2M内存
8M（1通道）
4M（2通道）
2M（4通道）
8M（1通道）
4M（2通道）
2M（4通道）
8M（1通道）
4M（2通道）
2M（4通道）
在Z高实时分辨率（1通道）时Z大时长

时间分辨率（一个快照）
200ps(5GS/s)
标准内存Z大时长
80us
80us
80us
可选的1M内存Z大时长
400us
400us
400us
可选的2M内存Z大时长
1.6ms
1.6ms
1.6ms
采集模式

FastAcq采集
FastAcq优化了仪器分析动态信号和捕获罕见事件的能力
Z大FastAcq波形捕获速率
100，000wfms/s
取样
采集取样值s
峰值检测
以所有实时取样速率捕获窄的毛刺
Z小峰值检测脉宽
小于1ns
平均
在平均中包括2-10，000个波形
包络
在Z小-Z大包络中包括2-2*10个波形
Hi-Res
实时矩形波串平均降低了随机噪声,提高了分辨率
触发系统

灵敏度

内部DC藕合
0.35格DC到50MHZ，在500MHZ时提高到一格 0.35格DC到50MHZ，在1GHZ时提高到一格
外部（辅助输入）
400mv从DC到50MHZ，在100MHZ时提高到750mv
主要触发模式
自动，正常和单一
触发序列
主要延迟，按时间计算的延迟，按事件计算的延迟。所有序列可以包括触发事件后的单独水平延迟以便及时定位采集窗口.
触发电平范围

内部
从屏幕ZX 10格
外部（辅助输入）
8v
线路
固定在0v
触发藕合
DC，AC（衰减小于60HZ），HF拒绝（衰减大于30KHZ），LF拒绝（衰减小于80KHZ），噪声拒绝（降低灵敏度）
触发保持范围
Z小250ns,Z大12s
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TDS5000B系列示波器技术参数表
垂直系统		TDS5032B TDS5034B	TDS5052B TDS5054B	TDS5104B
输入通道		2/4	2/4	4
模拟带宽(-3dB)		350MHz	500 MHz	1000 MHz
计算的上升时间5 mV/格 (典型)		1.15n ps	800 ps	400 ps
硬件带宽限制		150 MHz 或 20 MHz
输入耦合		AC	DC	GND
输入阻抗		1MW±1%或50W±1%
输入灵敏度	1MW输入	1 mV/格到10 V/格
	50W输入	1 mV/格到1 V/格
垂直分辨率		8 位，取平均值时大于11位
Z大输入电压	1MW输入	在超过200 kHz 时，(150 V CAT I 在20 dB/10 时减至9 V RMS
	50W输入	5 V RMS ，峰值小于(30 V
DC 增益精度		1.5%，偏置设为0 V
偏置范围，1MW		1 mV/格-99.5 mV/格 ±1 V 100 mV/格-1 V/格 ±10 V 1.01 V/格-10 V/格 ±100 V
偏置范围，50W		1 mV/格-99.5 mV/格 ±1 V 100 mV/格-1 V/格 ±10 V 100 mV-500 mV ±5 V 1 mV-50 mV/格 ±0.5 V 50.5 mV-99.5 mV ±0.25 V 505 mV-1 V ±2.5 V
在相等的垂直刻度时任意两条通道的通道间隔离		在≤100 MHz 时≥100:1 ，>100 MHz 时≥30:1
时基系统
时基范围		200 ps/格到40 s/格
时基延迟时间范围		16 ns 到 250 s
通道间抗扭曲范围		±25 ns
时间增量测量精度		±(0.30 采样间隔) + (15 ppm * 读数)
触发抖动(RMS)		10 ps RMS (典型)
长期取样速率和延迟时间精度		在≥1 ms 间隔上±15 ppm
采集系统
实时采样速率
1通道（Z大）		5GS/s	5GS/s	5GS/s
2通道（Z大）		2.5 GS/s	2.5 GS/s	2.5 GS/s
3-4通道（Z大）		1.25 GS/s	1.25 GS/s
等效取样速率（Z大）		250 GS/s	250 GS/s	250 GS/s
每条通道Z大记录长度：标准内存		400K（1通道） 200K（2通道）	400K（1通道） 200K（2通道） 100K（4通道）	400K（1通道） 200K（2通道） 100K（4通道）
可选的1M内存		2M（1通道） 1M（2通道）	2M（1通道） 1M（2通道） 500K（4通道）	2M（1通道） 1M（2通道） 500K（4通道）
可选的2M内存		8M（1通道） 4M（2通道） 2M（4通道）	8M（1通道） 4M（2通道） 2M（4通道）	8M（1通道） 4M（2通道） 2M（4通道）
在Z高实时分辨率（1通道）时Z大时长
时间分辨率（一个快照）		200ps(5GS/s)
标准内存Z大时长		80us	80us	80us
可选的1M内存Z大时长		400us	400us	400us
可选的2M内存Z大时长		1.6ms	1.6ms	1.6ms
采集模式
FastAcq采集		FastAcq优化了仪器分析动态信号和捕获罕见事件的能力
Z大FastAcq波形捕获速率		100，000wfms/s
取样		采集取样值s
峰值检测		以所有实时取样速率捕获窄的毛刺
Z小峰值检测脉宽		小于1ns
平均		在平均中包括2-10，000个波形
包络		在Z小-Z大包络中包括2-2*10个波形
Hi-Res		实时矩形波串平均降低了随机噪声,提高了分辨率
触发系统
灵敏度
内部DC藕合		0.35格DC到50MHZ，在500MHZ时提高到一格 0.35格DC到50MHZ，在1GHZ时提高到一格
外部（辅助输入）		400mv从DC到50MHZ，在100MHZ时提高到750mv
主要触发模式		自动，正常和单一
触发序列		主要延迟，按时间计算的延迟，按事件计算的延迟。所有序列可以包括触发事件后的单独水平延迟以便及时定位采集窗口.
触发电平范围
内部		从屏幕ZX 10格
外部（辅助输入）		8v
线路		固定在0v
触发藕合		DC，AC（衰减小于60HZ），HF拒绝（衰减大于30KHZ），LF拒绝（衰减小于80KHZ），噪声拒绝（降低灵敏度）
触发保持范围		Z小250ns,Z大12s