MFS-630-M系列 ICON及IR孔穿透率测量仪 ZG总代理厦门名大科技_详细资料

产品信息

名大科技提供的MFS-630-M系列 ICON孔穿透率测试仪【ZG总代】和服务被广泛应用于高校实验室、研究所、政府检测机构以及电子、化工、机械、制药、食品等多种工业领域。公司目前已是多个世界知名品Pai仪器产品在福建省内的总代理或授权经销商，长期提供：MFS-630-M系列 ICON穿透率测试仪。

MFS-630-M 显微穿透率检测系统
系统特色

●符合国际标准量测规范 ASTM D1003, ISO 13468

●JZ度高、可全光谱量测

●操作简便、可实时运算

●适合 IR 孔及 Icon 之量测

MFS-630-M01 规格
检测器
2048CCD 阵列检测器
检测功能
IR、Icon 穿透率

波长范围
380-950nm, 或依据客户需求定制
光学解晰度
1 nm

系统模式
聚焦镜组及积分球系统
准确度
±1% at 550nm；±2% at 850nm

检测速度
0.5-3 sec.
光源
卤素灯

Spot Size
< 0.4 mm
检测平台
XY 移动平台 360*270 mm 或 540*605 mm

光谱显示方式
AREA, LINE, BAR,POINT, BIBBON
软件检测功能
穿透率、CIE 色度，穿透率检测画面可标示Z大值(波长位置)、Z
小值(波长位置)及平均值

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检测器	2048CCD 阵列检测器
检测功能	IR、Icon 穿透率

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光学解晰度	1 nm

系统模式	聚焦镜组及积分球系统
准确度	±1% at 550nm；±2% at 850nm

检测速度	0.5-3 sec.
光源	卤素灯

Spot Size	< 0.4 mm
检测平台	XY 移动平台 360270 mm 或 540605 mm

光谱显示方式	AREA, LINE, BAR,POINT, BIBBON
软件检测功能	穿透率、CIE 色度，穿透率检测画面可标示Z大值(波长位置)、Z
软件检测功能	小值(波长位置)及平均值