TECLOCK日本得乐测厚规SM112得乐厚度计测厚仪SM-114 S...

TECLOCK日本得乐测厚规SM112得乐厚度计测厚仪SM-114 SM-112
TECLOCK日本得乐测厚规SM112得乐厚度计测厚仪SM-114 SM-112

品Pai:TECLOCK (得乐)

产地:日本

型号:SM-112    SM-114

测量范围：0-10mm

Z小读数：0.01mm

测量深度：SM-112   ：26mm  

               SM-114    : 120MM

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

技术参数：

指式方式：指针式

测量范围：0-10mm

Z小读数：0.01mm

测量深度：26mm

体积大小：(W*D*H)87*23*105mm