数据卡支援目前与未来测试需求的弹性架构非信令(Non-signaling)科技能提供Z大测试速度,同时维持Z高测试涵盖范围。序列式与平行测试可提供较传统通讯测试法高出6倍以上的处理量。IQxstream可让使用者自订组态,是製造与开发环境的Z理想选择。
1部测试器的测试处理量优点
将整体测试成本降到Z低
更完善的科技 = Z短的测试时间
专为快速测试所设计
LitePoint’s 与传统作法相较之下,LitePoint创新的非信令与序列式方法可节省75%测试时间。
序列式测试
IQxstream可直接测试硬体,能够略过多层装置软体,在一定时间内更迅速提供准确的测试。
专为提高处理量所设计
IQxstream Z多可提供四部装置的平行测试。
达Z佳处理量,降低整体资金成本
减少所需的测试器数量
节省厂房空间
降低营运与维护成本
为未来做好准备
因应未来LTE-Advanced技术,可支援100MHz IF频宽。
可自订的系统组态
IQxstream 能够为您独特的测试环境,提供Z大弹性。针对您特定需求设计系统,并含以下硬体选项:
单一装置测试
多重装置测试
MIMO测试
软体标准支援
LitePoint’s 您可透过LitePoint的可授权软体测量套件,购买目前所需的功能。
UMTS (GSM, EDGE, WCDMA, HSPA, HSPA+)
CDMA2000 (cdmaOne, EV-DO)
TD-SCDMA
LTE (LTE FDD, LTE TDD)
规格
频率范围:
400 MHz 至 3000 MHz
输入功率范围:
Z高+33 dBm(平均值)
+36 dBm(波封功率峰值,PEP)
输出功率范围:
+10至-140 dBm(串流埠)
-5至-130 dBm(双工模式 / broadcast mode)
IF频宽:
100 MHz
支援标准:
UMTS (GSM, EDGE, WCDMA, HSPA, HSPA+)
CDMA2000 (cdmaOne, EV-DO)
TD-SCDMA
LTE (LTE FDD, LTE TDD)