GE巴纳M2LR GE巴纳M2LR系列--氧化铝水分探头_详细资料

产品信息

Panametrics氧化铝水分探头设定工业水分测量的性能和价值标准已有40多年。使用时，M 系列水分探头通过一根内连电缆连接在Panametrics湿度仪控制台上。易用性、宽广的测量范围以及严格的校准标准使得这些系统在全世界成为工业水分测量的优先选择。

优越的性能
氧化物层的薄膜厚度对这种传感器的性能起着关键作用。 GE制造的传感器，其氧化膜的厚度能够显示传感器的真实湿度，而不是相对湿度的反应。这种关键性的薄膜厚度也为M系列探头提供了快速响应和异常的校准稳定性。
特点
·                                 与认证的电子设备或齐纳式安全栅配合使用时是本质安全的
·                                 优越的灵敏度、响应速度和校准稳定性
·                                 可选温度传感器
·                                 校准数据可溯源至美国国家标准技术研究院（NIST)或英国国家物理实验室(NPL)
·                                 专为现场应用而设计或与样品处理系统配合使用
·                                 真实湿度传感器
·                                 广泛的动态范围
应用
该Panametrics氧化铝水分传感器探头用于测量气体和非水溶性液体中的微量到周围水平之间的水分浓度。其设计旨在与所有 Panametrics水分仪一起用于工业领域，包括:
•石油化工
• 天然气
• 工业气体
• 半导体
•炉气/热处理
•发电
• 空气干燥器
• 药业
•航空航天
规格

本安
本质安全，当连接在
Panametrics水分系列分析仪、PM880
便携式湿度计或本质安全栅时
根据用户手册要求。
M系列水分探头：
BAS01ATEX1096X
II 1 G EEx ia IIC T4 (-20°C ~ +80°C)，及
CSA C US I类1区 A、B、C&D、T4组，
LR44204-23
符合欧洲标准
符合EMC指令89/336/EEC和
PED 97/23/EC (DN<25)
类型
氧化铝水分传感器
校准
每个探头都是由计算机单独校准，根据
已知水分浓度，可溯源至NIST或
NPL。
露点/霜点校准范围
• 整体性能：140°F ~ -166°F (60°C ~ –110°C)
（根据要求）
•标准校准范围：68°F ~ -112°F
(20°C~–80°C) 数据达 -166°F (-110°C)
•超低校准范围：-58°F ~ -148°F
(-50°C~-100°C) 数据达 -166°F (-110°C)
准确度
• ±3.6°F (±2°C)范围介于 140°F ~ -85°F (60°C to –65°C)之间
• ±5.4°F (±3°C)范围介于 -86°F ~ -166°F之间
(-66°C ~ 110°C)
重复性
• ±0.9°F (±0.5°C)范围介于140°F ~ -85°F之间
(60°C ~ -65°C)
• ±1.8°F (±1.0°C) 范围介于-86°F ~ -166°F之间
(-66°C ~ -110°C)

温度
• 工作温度：-166°F ~158°F (–110°C ~ 70°C)
• 存储：Z高 158°F (70°C)
工作压力(取决于安装方式)
• 法兰工艺连接件 (M1):
5 :Hg 至75 psi表压 (6 bar)
• 螺纹工艺连接件 (M2):
5 :Hg 至5000 psi表压 (345 bar)
流量范围
• 气体：1个标准大气压下，从静态到10,000 cm/s的线速度
• 液体：从静态到10 cm/s的线速度，密度为
1 g/cc
响应时间
不到五秒(含湿量发生63%的阶跃变化时，
加湿或烘干周期内)
其他用于特殊应用的水分探头的规格
请咨询工厂。
输入电压
1 VAC, 77 Hz
阻抗范围
50 kS 到 2 MS，取决于水蒸气
有限质保
•校准：六个月（从交货算起）
• 材料和制作工艺：一年（从交货算起）
可选温度传感器
类型
非线性负温度
系数 (NTC)热敏电阻(合成温度
由微处理器线性化)
操作范围
–22°F ~ 158°F (–30°C ~ 70°C)
准确度
整体准确度±0.9°F (±0.5°C)
响应时间（Z长）
充分搅拌的油中需1秒，或静止空气中需10秒
（发生63%的阶跃变化，升温或降
温时）

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