超精度美国BOWMAN（博曼）线路板膜厚测试仪

X射线荧光测量技术，在膜厚仪行业中已属成熟，美国博曼在该行业中数佼佼者，拥有成熟先进的测厚仪技术，在同类进口膜厚仪中 ，具有很高的价格性能比与服务优势，博曼BA100X-ray膜厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪，可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求，可测量．单层．双层，合金层等多种镀层。分析元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等