可调式制备器/可调式制备仪 型号:DP-KTQ-II
可调式制备器/可调式制备仪 说明:
DP-KTQ-II 可调式制备器适用于对膜厚的细微差别进行精确评估的研究。它通过调节制备器上方的两个微分器,能上下方向调整下面的刮刀以控制间隙,即Z终涂层厚度。刮涂时以每10微米为单位调整刮刀的间隙。
主要技术参数:
铝
有效涂膜宽度:55mm /100mm / 200mm
精度:±2μm
涂膜厚度范围:0-3500μm
订购信息:DP-KTQ-II可调式制备器(50mm)
DP-KTQ-II可调式制备器(100mm)
DP-KTQ-II可调式制备器(200mm)
备注:我公司也接受其它特殊规格或异形制备器的订单!
单面制备器/单面制备仪 型号:DP-SZQ
单面制备器/单面制备仪 说明:
DP- SZQ 单面制备器
单面制备器/单面制备仪 主要技术参数:
■ 高级不锈钢耐磨材质
■ 工字式设计方便一次性涂刮
■ 有效涂布宽度:100mm
■ 总长:128mm
■ 订购信息:
DP-SZQ单面制备器
DP-SZQ: 25μm | DP-SZQ: 37.5μm | DP-SZQ: 50μm | DP-SZQ: 75μm | DP-SZQ:100μm | DP-SZQ: 125μm |
DP-SZQ:150μm | DP-SZQ: 200μm | DP-SZQ: 250μm | DP-SZQ: 300μm | DP-SZQ: 350μm | DP-SZQ: 400μm |
DP-SZQ: 450μm | DP-SZQ: 500μm | DP-SZQ: 600μm | DP-SZQ: 700μm | DP-SZQ: 800μm | DP-SZQ: 1000μm |
DP-SZQ: 2000μm |
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四面湿膜制备器/四面湿膜制备仪 型号:DP-ZBQ
四面湿膜制备器/四面湿膜制备仪 说明:
DP-ZBQ 四面湿膜制备器是多槽沟涂膜器被设计用在平坦的底材上涂布均匀的油漆,粘结剂及其类似产品。我公司把多槽沟涂膜器可选择的多样性和固定槽沟涂膜器的精度结合在一个仪器上。可适用于水性,酸性和碱性的产品。
四面湿膜制备器/四面湿膜制备仪 主要技术参数:
■ 高级不锈钢耐磨材质
■ 有效涂布宽度:80mm;总长:100mm
■ 订购信息:
DP-ZBQ 四面湿膜制备器
5μm,10μm,15μm,20μm) | (10μm,15μm,20μm,25μm) | (25μm,50μm,75μm,100μm) |
(50μm,100μm,150μm,200μm) | (30μm,60μm,90μm,120μm) | (100μm,200μm,300μm,400μm) |
(50μm, 75μm,100μm,150μm) | (100μm,150μm,200μm,250μm) | (250μm,500μm,750μm,1000μm) |
方形制备器/方形制备仪 型号:DP-2389
方形制备器/方形制备仪 说明:
方形制备器主要用于制备直线干燥时间记录仪中玻璃条上的涂膜(12.7 mm宽)
方形制备器/方形制备仪 主要技术参数:
高级不锈钢耐磨材质
有效涂布宽度:12.7mm;总长:25mm
订购信息:
立方体制备器: (38μm,76 μm)
立方体制备器: (75μm,150μm)
遮盖率测定仪/遮盖率检测仪/遮盖率测试仪 型号:DP-2388
遮盖率测定仪/遮盖率检测仪/遮盖率测试仪 说明:
遮盖率测定仪是我公司在DP-Ⅲ反射率测定仪的基础 上新开发的微机型产品,其技术参数完全附合国家标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88和国际标准ISO3906-1980(E)。本仪器采用中文菜单,显示清晰、操作方便,它具有数据测量、数据储存、数据处理和数据查询等功能。遮盖率测定仪适用于测定白色漆和浅色漆的遮盖率, 也可以测定色漆和清漆在固定涂布率下的反射率
遮盖率测定仪/遮盖率检测仪/遮盖率测试仪 特点:
1、测量范围: 0―100
2、分度值: 0.1
3、示值误差: ±1
4、重复精度: 0.3
5、环境温度: 200C±50C 相对湿度 < 85%
6、工作电源: 220V±10% 50Hz
注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的