品牌 Fischer/德国菲希尔
德国菲希尔镀层测厚仪 Fischer XDV-µX 射线荧光测试仪,配有多毛细孔 X 射线光学系统,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。
特点:
德国菲希尔镀层测厚仪 Fischer XDV-µX 优化的微区分析测试仪器
根据X射线光学系统,可以对100 μm或更小的结构进行分析
极高的能量强度,从而实现出色的精度
即使对于薄镀层,测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm
只适用于平面的或是接近平面的样品
底部C型开槽的大容量测量舱
通过快速、可编程的 XY 工作台进行自动测量
德国菲希尔镀层测厚仪 Fischer XDV-µX 典型应用领域:
测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统
测量细小部件和细电线上的镀层系统
分析微小结构和微小部件的材料成分
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