Genius IF X荧光分析仪Genius IF

X荧光分析仪Genius IF简介

仪器简介：Xenemetrix的Genius IF  (二次靶激发)  X射线荧光光谱仪（EDXRF）为元素分析市场提供了一个Z经济有效的解决方案。这款分析仪能够进行无损的定性定量分析，元素分析范围从C碳(6)~Fm镄（100），检测精度从PPM~百分比浓度的Z高值。
超级XRF Genius IF 的主要部件包括：

1. 集成计算机系统
2. 高分辨率硅漂移（SDD）探测器
3. 带有可变光斑的强大X光管，以适应不同大小样品的测量
4. 8个二次靶及8款可定制的滤光片可以快速准确的测定微量和痕量元素

Genius IF 同样可以在经典的直接激励模式下操作，这款光谱仪既可用于传统的实验室，同时紧凑坚固的结构设计也使得它成为移动实验室的理想选择。它同样满足MIL 810E的冲击测试的要求。
硅漂移探测器(SDD): 硅漂移探测器具有高分辨率和高计数率，分辨率低至123eV,具有更快的响应速度和Z小化的操作时间。
SDD LE: 超薄的探测器窗口提供性能优越的低能元素（轻元素）分析。
技术参数：
测量范围：SDD系列：F(9) - Fm(100)； SDD  LE 系列：C(6) - Fm(100)
元素含量分析范围：1ppm~
X-光管：Rh/Ag/Mo/W/Pd 可选
X-射线电压：50kV,50W
激发模式：直接激发和二次靶激发
稳定性：室温条件下精确到0.1%
探测器：硅漂移探测器（SDD），避免使用液态氮
滤光片：8款可选
二次靶：1种（指定领域）
分辨率：136ev±5ev
自动成样：8个位置
工作条件：空气/真空/氦气
尺寸（L×W×H，cm）：内包装: 55 x 55 x 32, 外包装: 80 x 80 x 65
重量：50kg (净重), 90kg (毛重)
主要应用：
采矿、金属冶炼、环境保护、石油化工、放射性物质检测、材料研究

创新点：
首台拥有二次靶激发模式的台式X射线荧光光谱仪，拥有技术的广角几何加上8个二次靶及8款可订制的滤光片，可准确测定微量和痕量元素，硅漂移 (SDD)探测器具有高能量分辨率和高计数率，能量分辨率低至123Ev.