英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪

英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪

英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换，更换探针更为方便和经济。

测试原理：

CMI563采用微电阻测试技术，提供了精确测试表面铜铜厚(包括覆铜板、化学铜和电镀铜板)的方法。由于采用了目前市场上Z为先进的测试技术，无论绝缘板层多厚，印刷电路板背面铜层不会对精确可信的测量结果产生影响。

常规参数：

铜厚测量范围：
非电镀铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
精确度：非电镀铜：标准差0.2 %；
电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机
显示：4数位LCD液晶显示，2数位存储位置，字符高1/2英寸（1.27厘米）

存储量：13,500条读数
统计显示：测量个数，标准差，平均值，Z大值，Z小值。

单位：通过一个按键实现英制和公制的自动转换
电池：9伏电池
电池寿命：65小时连续使用

重量：9盎司（0.26千克）包括电池

尺寸：5 7/8英寸(长)×3 1/8英寸(宽)×1 3/16英寸(高) （14.9×7.94×3.02厘米）

另有耗材——面铜测厚仪探头销售。

其他相关测厚仪：(周)

英国牛津仪器Oxford铜箔膜厚仪

CMI95M铜箔测厚仪厂家

检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M

在线检测面铜厚度仪膜厚仪

面铜膜厚仪测厚仪

孔面铜膜厚仪CMI165

CMI511手持式PCB孔铜膜厚仪测厚仪

孔铜膜厚仪CMI511

牛津仪器孔铜测厚仪CMI511膜厚仪

专用检测孔内镀铜膜厚仪

孔内镀铜测量仪膜厚仪

孔内镀铜厚度测试仪膜厚仪

英国牛津仪器Oxford面铜膜厚仪CMI563

批发供应便携式面铜测厚仪CMI563

PCB行业专用线路板面铜膜厚仪测厚仪

线路板孔铜面铜膜厚仪测厚仪CMI760

CMI760孔铜面铜测厚仪膜厚仪

英国牛津仪器Oxford CMI200系列cmi243膜厚仪

专业金属镀层测厚仪膜厚仪CMI243

专业检测紧固件螺丝螺钉螺帽螺栓膜厚仪测厚仪

Oxford 镀层膜厚仪CMI233测厚仪

涂镀层测厚仪CMI233超声波测厚仪

手持式在线膜厚测量仪CM233

Oxford 漆膜膜厚仪CMI250薄膜测厚仪

涂镀层膜厚仪英国牛津测厚仪CMI250

方源仪器总代理膜厚仪CMI250测厚仪

ZG代理商：深圳市方源仪器有限公司

地址：深圳市南山区登良路62号南园综合楼5楼             地址：上海市闵行区申滨路1051弄140号1101室

：  86372601  86372660      ：  54888372  

     : fyyq@vip.163.com                  : fyyq@vip.163.com