HP-CHY-LD超薄镀铝膜测厚仪适用于各种镀铝膜铝层厚度的检测,包括食品烟草软包装铝膜、涡流镀层、蒸发铝膜、微薄金属膜、硅片蒸铝层、 声表面波铝膜、 半导体铝膜、 车灯铝膜、塑料薄膜铝膜等,该机现为触摸屏操作,性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用,符合国家标准GB/T4957。适合非平面的测量,探头可移动。
超薄镀铝膜测厚仪工作原理:
铝膜测试仪利用涡流原理制造,即被测蒸铝层靠近高频激磁磁场时,感应产生涡电流,因而产生涡流磁场,此涡流磁场反作用于原来激磁磁场,阻抗发生变化,然后通过检测电路并进行放大,输出与厚度相对应模拟电压。为了减少漂移即减少重复性误差和提高测量准确度,本仪器应用智能功能单片机系统,即对测厚过程中非线性和零漂进行校正,因而提高了测量准确度。
超薄镀铝膜测厚仪技术参数:
可测量直径范围: 测量直径不小于6MM
量程范围: 0-2000埃
分辨率: 1埃
测量准确度: ≤±3%(F.S)
仪器尺寸:400x320 x 120 mm
重 量 :7公斤
超薄镀铝膜测厚仪配置:
超薄镀铝膜测厚仪壹台,校正片一片,电缆线一根。
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