超薄DR平板探测器一、产品规格
用途
普通X线摄影
方法
平板探测器:闪烁体和非晶硅(a-Si)
传感器
(大面积新型MIS传感器和TFT)
闪烁体
GOS(Gd2O2S:Tb)
像素间距
160×160微米
有效像素
1,464×1,776像素(260万像素)
图像尺寸
43×36cm (14×17 in.)
A/D
14位
预览时间
X光曝光后约3-5秒
接口
DICOM 3.0,以太网10/100 Base TX
DICOM *
兼容DICOM3.0打印管理类(SCU),存储服务类(SCU)和其他
电压
100-240V(50/60Hz)
能耗
170VA
操作环境
传感器单元:5-35℃(41-95°F),30-75% RH(无结露)
参数
FDA510(k),UL60601-1,EN60601-1,CE0197
尺寸
传感器单元(W×L×T):344×380×22.5mm (14×15×0.9 in.)
重量
传感器单元:2.7 kg (5.9 lb.)
标准配件
传感器单元、电源盒、遥控开关
二、检测内容
1、高压线缆、检测开关、连接线、插头等电子元件内部结构(位置是否偏移、变形、脱焊;是否断裂等现象);
2、检测皮鞋、皮包是否有异物(鞋底、鞋面、包内及包表面非指定位置有铁钉、针脱落在内);
3、塑料件、橡胶件、注塑件内部是否有气孔气泡;
4、铝铸件或其他合金铸件内部是否有砂孔;
气孔检测 鱼检测效果图 芯片内部结构检测
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