SICK位移测量传感器,西克位移测量传感器
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产品系列 OD Mini
轻松精确测量
- 紧凑型、坚固的外壳
- 单独使用或与 OD Mini 评价单元一起使用
- 设备上配备显示器和 LED,可对当前状态进行可视化显示
- 提供各种接口
- 通过显示屏或外部示教输入可进行简单培训
- 用于快速和精确测量的 CMOS 接收单元,其测量精度在 µm 范围内
- 各种测量范围:从 10 mm 至 250 mm 均可进行测量
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SICK位移测量传感器,西克位移测量传感器 产品系列 OD Value
简单、准确测量
- 多种测量范围:从 26 mm ... 34 mm 至 100 mm ... 500 mm
- 借助 CMOS 接收元件实现非常准确、不受表面限制的测量
- 简单、基于 LED 的操作或示教方案
- 凭借大量的标准接口实现丰富的产品多样性
- 用于精确测量极小物体的激光技术
- 紧凑的独立式设备
- 的性价比
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产品系列 OD Max
两个传感器集成于一个评价单元:非常准确地进行测量和计算
- 多种测量范围:从 24 mm ... 26 mm 至 250 mm ... 450 mm
- 使用 CMOS 接收元件进行不受表面限制的测量
- 高测量频率和高线性度
- 用于两个传感器进行计算的不同计算公式
- 用于极准确测量和识别极小的物体的激光技术
- 多种输出方法
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产品系列 OD Precision
高精度确定所有尺寸
- 多种测量范围:从 24 mm ... 26 mm 至 300 mm ... 700 mm
- 使用 CMOS 接收元件进行不受表面限制的测量
- Z高测量准确度和测量频率
- 仅使用一个传感器头进行玻璃厚度测量
- 不同的光点尺寸
- 多达三个传感器的集成式计算
- 通过 RS-422 独立使用
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产品系列 Profiler
一条线胜于一个点
- 只使用一条激光束就能测量复杂的轮廓
- 可同时分析Z多四个区域
- 通过十个集成的测量功能,如高度、宽度和倾斜度
- 设备中的传感器头和评价单元
- 通过软件或带操作元件的集成显示屏进行调试
- 高质量的 CMOS 接收单元
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产品系列 OC Sharp
Z高精度的彩色共焦测量技术
- 多种测量量程:从 600 µm 至 12 mm
- Z大可靠性和精度的彩色共焦传感器技术
- 至 4,000 Hz 的快速测量频率
- 可靠测量极为不同的材料和颜色
- 只使用一个传感器头就能测量透明材料的厚度(用于大于 30 µm 层厚度的彩色共焦以及用于大于 3 µm 层厚度的干扰测试仪)。
- 用于测量Z小物体的极小光点
- 通过 OC Sharp 软件舒适地进行参数设置
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产品系列 OD1000
用于远距离精确测量的解决方案
- 长达 1 m 的大测量范围
- OLED 显示器或 SOPAS 配置软件方便进行设置
- 无需外部放大器单元的独立式设备
- 坚固的金属壳体
- 可调节模拟量输出 (mA/V) 和采用 IO-Link 的推挽开关量输出
- 不受颜色或表面影响的精确测量
- 多种安装方式