文明仪器ST2258A自动四探针硅电阻率方阻测试仪导电薄膜ITO膜方阻...

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买家不必担心运输损坏问题，如果有损坏，

 本店无条件退换（来回运费卖家承担）

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二、概述 

  ST2258A型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途半导体参数综合测量装置，是一款全自动电流量程的智能化数字化四探针测试仪！也称电阻率测试仪|方块电阻测量仪|体积电阻率测试仪，它可以测量单晶体|多晶体|纳米涂层|高分子材料|导电塑料|导电橡胶|ITO膜|导电薄膜等金属导体|非金属半导体材料的电阻率|方块电阻|方阻，也可测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻|方阻|表面电阻）。测试规范符合国家标准和美国试验与材料协会ASTM标准，利用四端子测试原理，换上特制的四端子测试夹具，还可以对金属导体、开关触点的低、中值接触电阻进行测量。

      本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。

三、基本技术参数 

1.测量范围、分辨率

电    阻：     1.0×10-3～ 200.0×103 Ω,    分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω

电 阻 率：     1.0×10-3～ 20.0×103Ω-cm  分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω-cm

方块电阻：     1.0×10-3～ 20.0×103Ω/□  分辨率1.0×10-3～ 0.1×103 Ω/□

2.可测半导体材料尺寸

直        径：  测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度：  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3.量程划分及误差等级

4)工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W

5)外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm

净   重：≤1kg

净   重：≤1kg