半导体BOWMAN X射线荧光美国膜厚测试仪

如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择，传统的楔切法，光截法，电解法，都是有损检测，BOWMAN（博曼）膜厚测试仪，采用先进的X射线荧光测试原理，是一种非接触式的动态计量仪器，只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等