PXS8-Te同轴光体视显微镜 适用于电子线路板、芯片封装、珠宝鉴定、研相矿本分析、微小精密零件品质控制、装配、*、银行痕迹对比、教学示范、临床手术样本、农业选种,纺织品检验、养殖业品种优选、病理分析。
PXS8-Te同轴光体视显微镜 特点:
PXS8-Te来自美国的品Pai,目前国内仅有的高倍立体显微镜,我们采用和国外同步的同轴光技术,以满足对透明封装后的芯片特殊检测标准的使用要求。
品质优良的光学系统使图像更明亮,即使长时间观测眼睛也不会疲劳。
粗微动的调焦首次应用在高倍体视上,使高倍调焦变得更加JZ。
多种支架的选配,总能满足复杂工位的操作要求。
还有各种光谱光源的配合,帮助解决碰到的困难。
PXS8-Te同轴光体视显微镜 主要技术参数
镜筒:双目,45度倾斜
高眼点大视野目镜:PLAN10X/20 mm
物镜:0.9X-7.4X
变倍比:1:8.2
总放大倍数:9-74X
调焦:粗微动调焦,粗动立杆高度300mm,升降范围105mm
工作距离:102mm
光源:同轴光.