Renishaw TP200 英国雷尼绍触发式三坐标测头系统_详细资料

产品信息

英国雷尼绍Renishaw TP200触发式三坐标测头系统

TP200触发式三坐标测头系统组件包括：
•   TP200或TP200B测头本体（TP200B为另一款，允许更大振动公差）
•   TP200测针模块 — 选择固定超程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）
•   PI 200测头接口
•   SCR200测针交换架
还有一种EO模块（长超程），超程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向提供保护。
TP200三坐标测头系统特性与优点
•    应变片技术具有无可比拟的重复性和的三维轮廓测量
•    零复位误差
•    无各向同性影响
•    六向测量能力
•    测针测量距离达100 mm（GF测针）
•    快速测头模块交换，无需重新标定测尖
•    寿命 >1 000万次触发
TP200 / TP200B测头本体
TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。
传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。
TP200B采用的技术与TP200相同，但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。
请注意：我们不推荐TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。
Renishaw TP200三坐标测头技术规格:

摘要
TP200
TP200B
主要应用需要高精度的数控坐标测量机。与TP200一样，但当出现误触发事件时。
传感器方向六轴：±X、±Y、±Z 六轴：±X、±Y、±Z
单向重复性 (2s µm) 触发水平1：0.40 µm 触发水平1：0.40 µm
触发水平2：0.50 µm 触发水平2：0.50 µm
XY（2D）轮廓形式测量偏差触发水平1：±0.80 µm 触发水平1：±1 µm
触发水平2：±0.90 µm 触发水平2：±1.2 µm
XYZ (3D) 轮廓测量偏差触发水平1：±1 µm 触发水平1：±2.50 µm
触发水平2：±1.40 µm 触发水平2：±4 µm
测针交换的重复性 SCR200：±0.50 µm（Z大） SCR200：±0.50 µm（Z大）
手动：±1 µm（Z大）手动：±1 µm（Z大）
测力（测尖） XY平面（所有模块）：0.02 N XY平面（所有模块）：0.02 N
Z轴（所有模块）：0.07 N Z轴（所有模块）：0.07 N
超程测力（位移为0.50 mm时） XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N
XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N
Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N
Z轴（LF模块）：1.60 N Z轴（LF模块）：1.60 N
重量（测头传感器和模块） 22 g 22 g
Z长加长杆（如配在PH10系列测座上） 300 mm 300 mm
推荐的Z大测针长度（M2测针系列） SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF
LF模块：20 mm钢质至50 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF
安装方式 M8螺纹 M8螺纹
适合的接口 PI200、UCC PI200、UCC
测针模块交换架自动：SCR200 自动：SCR200
手动：MSR1 手动：MSR1
测针系列 M2 M2

TP200测针模块：
测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上，具有快速测针交换功能和测头超程保护功能。
有三种测针模块可供选择，具有两种不同的超程测力。

模块 SF（标准测力） LF（低测力） EO（长超程）
应用一般使用。小直径测球或必须使用Z小测力的场合。额外超程使坐标测量机在较高的碰触速度下安全停止并回退。
备注测针Z长可达100 mm，测球直径 > 1 mm。测球直径小于1 mm。与SF的超程测力相同。
测头Z轴的额外超程为8 mm。

雷尼绍SCR200测头交换架：
SCR200可对Z多六个TP200测针模块进行自动高速交换。SCR200由独立的测头接口 — PI200供电，并可确保安全的测针交换。SCR200套件可包含低测力和标准测力组件，每一种套件都包含一个SCR200加上三个测力相同的测针模块。
SCR200交换架规格：
高度：190mm；
宽度：245mm。
测针模块交换：
TP20和TP200测头具有测针模块交换功能，生产效率更高，并且总能选择Z适合应用的测量系统。
减少循环时间 — 模块交换时间约为6秒，相比之下手工交换需要1分钟（还有重新标定时间）。
XY平面碰撞保护装置 — 测针模块在发生碰撞时会分离。
模块可以安全地存放在交换架上。

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摘要	TP200	TP200B
主要应用	需要高精度的数控坐标测量机。	与TP200一样，但当出现误触发事件时。
传感器方向	六轴：±X、±Y、±Z	六轴：±X、±Y、±Z
单向重复性 (2s µm)	触发水平1：0.40 µm	触发水平1：0.40 µm
	触发水平2：0.50 µm	触发水平2：0.50 µm
XY（2D）轮廓形式测量偏差	触发水平1：±0.80 µm	触发水平1：±1 µm
	触发水平2：±0.90 µm	触发水平2：±1.2 µm
XYZ (3D) 轮廓测量偏差	触发水平1：±1 µm	触发水平1：±2.50 µm
	触发水平2：±1.40 µm	触发水平2：±4 µm
测针交换的重复性	SCR200：±0.50 µm（Z大）	SCR200：±0.50 µm（Z大）
	手动：±1 µm（Z大）	手动：±1 µm（Z大）
测力（测尖）	XY平面（所有模块）：0.02 N	XY平面（所有模块）：0.02 N
	Z轴（所有模块）：0.07 N	Z轴（所有模块）：0.07 N
超程测力（位移为0.50 mm时）	XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N	XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N
	XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N	XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N
	Z轴（SF/EO模块）：4.90 N	Z轴（SF/EO模块）：4.90 N
	Z轴（LF模块）：1.60 N	Z轴（LF模块）：1.60 N
重量（测头传感器和模块）	22 g	22 g
Z长加长杆（如配在PH10系列测座上）	300 mm	300 mm
推荐的Z大测针长度（M2测针系列）	SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF	SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm GF
	LF模块：20 mm钢质至50 mm GF	LF模块：20 mm钢质至50 mm GF
安装方式	M8螺纹	M8螺纹
适合的接口	PI200、UCC	PI200、UCC
测针模块交换架	自动：SCR200	自动：SCR200
	手动：MSR1	手动：MSR1
测针系列	M2	M2

模块	SF（标准测力）	LF（低测力）	EO（长超程）
应用	一般使用。	小直径测球或必须使用Z小测力的场合。	额外超程使坐标测量机在较高的碰触速度下安全停止并回退。
备注	测针Z长可达100 mm，测球直径 > 1 mm。	测球直径小于1 mm。	与SF的超程测力相同。测头Z轴的额外超程为8 mm。