E+H雷达型物位计FMR250微波物位测量计

E+H雷达型物位计FMR250微波物位测量计

固体连续非接触式的物位测量，4...20mA两线制技术
应用
此Micropilot M型雷达特别适用于对粉状和粒状的固体进行连续，非接触的物位测量。另外它也可用于液体测量。测量不受粉尘，进料噪声，温度分层和气体分层的影响
·         在粉尘严重的高的固体料仓（如水泥，生料或动物饲料）中的物位测量。
·         可应用于高温达200℃（392℉）的场合，如水泥熟料或飞灰。
·         应用于具强研磨作用的固体块料，如铁氧体。
直径为DN200的抛物面天线的波束角只有4°，因此适用于有很多障碍物的工况或测量距离大于30m（100ft）的场合
直径为DN80或DN100的喇叭天线适用于小尺寸的安装短管。
性能和优点
·         两线制技术，低成本
·         两线制技术降低布线成本，易实现与现有系统的兼容
·         非接触测量：
·         不受介质特性的影响
·         通过数文显示菜单轻松进行现场操作
·         通过操作软件（ToFTool）实现简便的组态、文件编制及诊断功能
·         标准的空气吹洗接口用于粉尘严重或易粘附的介质
·         适用的过程温度Z高达200°C（392℉）
·         HART通信协议
·         可选择分体远程显示

E+H雷达型物位计FMR250微波物位测量计
E+H CLM253-ID0010
E+H CUS31-A2A
E+H CPA450-1F116
E+H CPS11-2BA2ESA
E+H CPM253-PR0005
E+H CPM253-PR8105
E+H CPS11-2AA2ESA
E+H CPM253-PR0105
E+H CPM253-MR0115
E+H CPS11D-7AA21
E+H CPA250-A00
E+H CYK10-A0101
E+H CPS11D-7AA21
E+H CYK10-A031
E+H CPM253-MR0005
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